热量测量仪器

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温度测量仪器
温度测量仪器
DLF 2800

Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 是先进的独立平台,用于测量材料在高温下的热扩散系数和比热容,温度范围从室温直至 2800°C。独特的设计融合了专有的激光器、激光光学元件、检测器和加热炉技术,兼具独特的多位置样品转盘,确保删除的测量精度和高效率。导热仪可以在不同气氛条件如 空气、真空、惰性气氛下工作,可以表征 广泛的材料种类,包括高分子、陶瓷、碳素材料、玻璃、金属和合金以及各种复合材料. 特点和优势: 高能激光源具有比竞争对手高 40% ...

温度测量仪器
温度测量仪器
DLF 1600

Discovery 激光闪光 DLF 1600 是一款先进的独立仪器,可测量材料的热扩散系数和比热容,温度范围从室温直至 1600°C。其独特设计中包含专属激光器、激光光纤、检测器和加热炉技术,以及获得专有的独特高纯度氧化铝五样品位转盘,可提供空前的测量精度和样品处理量。DLF 1600 可在包括空气、惰性气体或真空等的各种环境条件下运行,并表现各种不同材料的特性,其中包括聚合物、陶瓷、碳、石墨、复合材料、玻璃、金属和合金等。 功能强大的 DLF 1600 ...

化学测量仪器
化学测量仪器
DLF 1200

Discovery 激光闪光导热仪 DLF 1200 采用紧凑型台式设计,可在室温至 1200˚C 下测量材料的热扩散系数、导热系数以及比热容。此款仪器采用独有的 25 焦耳能量激光源,可以在极为严苛的条件下测量各种各样的样品。其四样品托盘设计可以确保达到理想生产率。它是删除一款使用激光脉冲源的台式激光闪光测量仪,无论是精度、准确性还是各项功能方面,都胜过氙光源设计。 激光功能十分强大,所提供的能量比氙光源系统高出 65%,可以在 高达 1200˚C 的温度下对各种各样的样品进行准确测试,而不受样品厚度和导热系数影响 激光是固有相干光,可以精确照射到样品表面,因此无需校正因过渡照射到样品支架而产生的侧向热传递 自动进样器采用获得专有的四位氧化铝样品托盘设计,可删除/广泛限度提升生产率 拥有各种型号的样品托盘,可盛放不同尺寸(删除/广泛达 ...

频率测量模块
频率测量模块
NBS-Series

... NBS 系列包括基于热噪声和黑体辐射的主要基本物理常数的校准标准。这为测量极低的噪声系数(噪声温度)提供了极高的精度。NBS 系列使用简单、用途广泛,是噪声源校准、辐射计测试参考和低噪声放大器测试的理想解决方案。 频率范围可从 18 GHz 扩展到 325 GHz 精度提高 2 至 3 倍 自动氮气吹扫,无需氦气设备 主要校准标准 辐射计参考源 SATCOM 地面站一致性验证 ...

电阻测量表
电阻测量表

... 利用 ⊿VF 方法测量 LED 热阻 可使用大电流测量 LED 模块和 LED 元件 "快速响应"、"稳定"、"大电流 "功率 ⇒ 实现稳定和过渡热阻测量 具有温度系数测量功能(可与恒温槽连接) 具有多元件切换功能(最多 100 ch) 正向电流 (IF) - 0.1~3A(0.1A STEP) 正向电压 (VF) - ~20V,~100V(*可选) 开机设置时间 (PW) - 50µs~3600 秒(1 秒 STEP) 检测时间 (td) - 10µs~ ⊿Vm ...

电测量仪器
电测量仪器
2 series

瞬态热电阻测量设备是用于测量IGBT/MOS-FET/Diod/BJT等的瞬态热电阻的仪器。 BJT (Bipolar Junction Transistor)瞬态热电阻测量设备 本设备向晶体管的基极•发射极通入微电流,测量此时基极与发射极之间的电压。随后在集电极与发射极之间施加电源,提升结点温度。切断电源后再次向晶体管的基极•发射极通入微电流,测量基极与发射极之间的电压,计算出差值。 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)瞬态热电阻测量仪 与BJT瞬态热电阻测量仪在同一时间计算栅极与发射极之间电压差值的测量仪器。 P-MOS ...

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