片材用测量仪器

... 高性能、扩展范围厚度和基础重量测量 NDC X 射线透射仪提供连续卷筒产品的绝对厚度和基础重量测量。 • 出色的跨网分辨率 — 用于更精确的高级型材控制 (APC) 型材控制 • 更宽的工作重量/厚度范围-超低噪声仪，具有更宽的 X 射线孔径，允许更大的信号区域穿过材料 • 超高分辨率-窄条纹分辨率允许高分辨率剖面测量，这是某些应用的 要求 • 非核-由于光子能量低，因此需要最小的屏蔽，在设备断电时不会产生残留辐射危害，并且不需要核子许可来简化安装 • 快速投资回报率和最低的拥有成本-坚固耐用、经济高效的测量解决方案，高度可靠且易于维护 • ...

... 通用型高性能厚度和基础重量测量 NDC Beta Pranc 测量仪可为连续型产品提供高速、高精度的厚度和基础重量测量。 • 最高的测量精度 — 超快的传感器响应时间和数据处理能够在最大扫描速度下实现高分辨率，具有卓越的测量灵敏度和精度 • 最小化活动源-更小、更轻的源胶囊和更少的屏蔽转换成一个紧凑的头设计具有较低的放射性，这是核监管机构首选 • 快速的投资回报率和最低的拥有成本-坚固、经济高效的测量解决方案，高度可靠且易于维护 • 卓越的支持-所有系统均由 ...

... 通用厚度和基础重量测量 高精度、高度稳定的单面厚度或基础重量测量，采用先进的集成技术，可与我们的扫描仪进行智能配对。 • 紧凑型 — 重量小于 3 磅，有效地捕捉来自无法进入的过程区域的测量数据 • 多功能 — 可配置用于定点测量或网页扫描；定点测量仪可以在测量机方向 (MD) 配置，用于连续涂层或交叉应用方向 (CD)，用于压 缩轮廓优化 • 无标准化-由于伽马辐射对成分敏感性较低，伽马反向散射仪可提供稳定和准确的测量，而无需标准化或重新校准 • 快速投资回报率和最低拥有成本-坚固耐用、成本-有效的测量解决方案，可靠、准确和易于维护 • ...

... 适 用于薄膜、片材和涂层的高性能基本重量和厚度测量这款智能仪器可为广泛的薄膜、薄膜和涂层应用提供精确、可重复、高分辨率的基本重量和厚度测量。 • 多功能测量 — 通过多层区分，有效测量薄膜到厚片；透明、着色和有色薄膜；空白、微光和透气薄膜；有机和水基涂层； 测量昂贵的阻隔材料 — 如尼龙、EVOH 或 PVDC其他聚合物，如 PE、PP 或离子体 • 在任何环境下均具有成熟的性能 —— 不受过程和环境条件（如照明、温度、湿度和其他元素）变化的影响 • 非核技术-不需要特殊的许可证或保护防护装置 • ...