MCP光谱仪

... Ultima-我们经过优化的荧光计用于短寿命时间秒至秒：专为短寿命测量而优化的紧凑型荧光系统 Sultima 结合了最新的高时间分辨率 TCSPC 电子产品、可互换的高速光源和探测器技术，以及我们的 FluoCube 最灵活的光学平台，提供最高性能的光子计数寿命系统。从最全面的脉冲光源和检测器选项中选择，包括：370 nm 至 Nirpio秒的三角二极管皮秒激光二极管，260 nm 至 NirTi- 蓝宝石激光和多光子选件集成皮秒 PMT 模块微通道板 PMT，实现极致的时间分辨率 ...

功能强大的台式 MALDI-TOF 质谱 – 15 k 分辨率 – 易于使用 – 适用于不同的分析挑战 高质量精度 专利的 PAN 脉冲离子提取技术、独立的反射器电源、集成的 MCP 检测器和高精度数字转换器，在正负电离模式下提供更佳的质量分辨率。 易于使用 直观的操作使该系统成为非专家用户和繁忙的多仪器实验室的的理想之选。 灵活性和灵敏度 轻松检测不同种类的化合物，如寡核苷酸、蛋白质和聚合物。无网格反射器和专利的 ...

波长: 3 nm

... 它是一个高规格的奥杰电子能谱仪，带有一个半球形的分析器，可以对纳米到微米区域的化学键合状态进行高通量分析，还有一个也用于EPMA的场发射电子枪，因为它可以提供一个大的、稳定的电流。 高精度的尤克里里试样台使它可以进行以前不可能的绝缘体分析。这与浮动式离子枪相结合，提供了处理任何试样的通用性，如金属和绝缘材料，以获得成分信息和化学信息。 特点 高灵敏度、高分辨率的分析器 采用具有可变能量分辨率的分析仪，使得在高分辨率模式下进行化学键合状态分析，以及在高灵敏度模式下进行高速绘图成为可能。 肖特基场发射电子枪 一把电子枪，既能实现3nm空间分辨率的图像观察，又能通过高达200nA的大电流实现高通量的化学键合状态分析。这是通过将JEOL多年来开发的电子光学技术与SEM和EMPA中使用的肖特基场发射电子枪相结合而实现的。 正中试样平台 采用一个正中的平台，是一个具有多个光学系统的分析设备所必须的，它提供了高度中心的高度重复性。 ...

... 最终成像 XPS 分辨率：500 nm /100 nm（实验室/同步）采用 PEEM 技术简单的样品导航 小点光谱像 差校正能量滤波器 高功率单色 X 射线源 ARUPS 与 FOC US GmbH 合作创建NanoESCA 提供了无与伦比的 XPS 横向分辨率（在实验室条件下实现小于 500 nm）的化学状态映射。 该仪器可以分析最小的样品结构，提供超出其他高横向分辨率技术（如扫描螺旋和 TOF SIMS）的极限范围的化学状态信息。 采用 在二次电子状态下工作的 ...

... 特高压双子座电子柱： 最高空间分辨率最 小的电子束点尺寸 独特的低能性能高 效 SEM，带镜内 SED NanoSam 电子分析仪： 可变能量分辨率 极佳灵敏度、多通道检测 样品处理： 柔性样品大小 可变样品温度 (50-500K) 样品倾斜 60 NanoSam 实验室是分析小结构的终极工具. 由特高压双子座电子柱的独特性能驱动，在扫描螺旋显微镜 (SAM) 中保证了无与伦比的分辨率低于 5 nm，SEM 中的分辨率高于 3 nm。 与其他 Auger ...