{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... 产品描述
用于光伏（PV）组件的潜在诱导衰减（PID）和旁路二极管热试验系统。该系统可模拟强电场和高温高湿环境，向组件连接器和支架施加可控的正负高电压，并可与环境试验箱联动进行温湿度复合应力测试。适用于晶硅光伏组件的实验室与生产线鉴定。
测试标准
- IEC61215-2: 2021 MQT 21 Potential Induced Degradation Test
- IEC 62804-1-1:2020 Photovoltaic
... 概述
CT1000-SiPh是一款面向大批量工业化的硅光芯片测试设备。设备由测试部分和上下料部分组成，可实现光纤阵列（FA）与硅光芯片的快速、精确耦合与测量。系统集成高分辨率视觉系统、高精度耦合机构和动态闭环力控，保证测量一致性与产能。
主要特性
- 高分辨率视觉系统（视觉分辨率 50 nm）
- 用于FA→芯片定位的高精度耦合机构
- 实现快速且可重复耦合的动态闭环力控
- 高度兼容的设计，支持多种芯片类型与接口
- 适用于产线节拍的篮筐式自动上下料
优势
- 测试部分采用独立气浮减震系统，隔离外部及上下料振动
- 适合批量生产的篮筐式自动搬运
- 末端压力反馈用于精确的工艺控制与监测
- 支持热风扩膜等工艺流程
应用领域
- 光电子（Photonics）
- 功率器件
- 微波射频器件
- 新能源汽车（动力系统与传感模块）
特性 ...
