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... 概述
AST 系列为电机定子、线圈和绕组的生产检测提供自动化测试系统。AST5/W 平台具有高度灵活性和可定制性适用于从几瓦到 5 MW 的电机支持 2 至 24 接线端。
应用与范围
适用于自动生产线集成或人工操作的测试台单工位或双工位。可针对小型到大型电机配置必要时提供中压测试版本。
测试与测量能力
- 高压HV测试与浪涌Surge测试包含基础测试
- 可选的部分放电PD测试用于绝缘诊断
- 特殊的匝间和绕组对地绝缘诊断用于检测
... 产品概述
DMT EVO 是一款紧凑型混合信号与数字自动测试设备（ATE），用于在研发、实验室、试产前与量产后阶段对集成电路进行高效的表征与验证。模块化主框架支持最多 5 个插槽，可将电源、数字模块、AWG/数字化仪和测量单元组合为一体化且可扩展的平台。系统通过直观的图形化界面控制，并配备 Kronos 自动生成优化测试程序。
主要优势
- 占地面积极小，在有限空间内实现高密度资源集成，适合实验室与试产环境。
- Kronos
... 产品概述 FTI‑1000 Wafer HV 是一款面向晶圆级高覆盖测试的 ATE 系统，适用于功率分立器件和宽禁带（wide‑bandgap）技术。Wafer HV 版本配备高压 DC/AC 源，适用于单点探针（single‑site probe）应用，可满足最多 6 kV DC 和 5.5 kV AC 的要求。
推荐理由
- 配置灵活 — 模块化 Tester‑per‑Channel Board 架构，支持独立资源和可扩展扩展
- 电气覆盖全面
... 产品概述
Hatina WLBI 是为晶圆上功率器件设计的晶圆级 Burn-In（WLBI）与 HTOL 解决方案。紧凑型测试腔体（概述尺寸 560×560×550 mm；规格表 D×W×H 为 560×560×560 mm）可连接至标准晶圆探针台，实现整片晶圆的老化测试并具备高并行吞吐量。每个 DUT 嵌入加热器，以实现精确、低功耗的局部热控（无烤箱策略），从而降低能耗和占地并简化自动化集成。
主要优势
- 适用于功率技术：Si、SiC、GaN
- 兼容
... 模拟IC测试仪-STS8200 系统特点。 - 主机最多可以有26个插槽 - 专注于模拟、线性、PMIC和功率IC领域 - 全浮动V/I源，带每引脚16位数字转换器和AWG。 - 高电压V/I源和高功率V/I源为选件 - 带AWG和数字化仪的AC源/表 - 多通道高分辨率时间测量单元 - 最多32个数字通道，每通道5Mhz测试速率。 - 图形调试工具 - 多达16个站点 真正的多站点测试能力 - 支持乒乓模式、TWIN模式和多任务功能。 - 可升级为带测试头的混合信号测试机。 ...
Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
... 普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光 器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。 ●单抽屉最多支持16路，最多8抽屉 ●各通道互相独立 ●电流回读，同步自动测 量电压、光功率等数据 ●加热膜加热，温控范围室温~125℃ ●电源抗浪涌设计 ●收光装置水冷 ●绝对精度±1℃，不同 ...
... 该设备旨在快速评估1s和2s电池的单总线锂离子电池保护板的基本功能和保护功能，利用IC罗盘美国TI系列（如BQ27742，BQ277410，BQ28z610，BQ27541，BQ27545，BQ2753X）。 与大量的气体测量仪IC兼容，具有高精度和快速测试的特点。 具有很高的精度，使其成为我们挑剔的客户的理想选择。 IC通信测试 HDQ/Voltage电压测试 空载/负载电压测试 静态电流消耗测试 传导/识别热敏电阻测试 过电压/过放电测试 过温保护测试 电容测试 过电流保护测试 短路保护测试 故障分析 低电压预充电测试 低温预充电测试 气体检测仪IC过电压二次保护测试 0Ω电阻测试 ...
... IP750Ex-HD为当前和未来的设备提供图像传感器测试能力，同时提供最低的测试成本。 - 为当前和下一代设备设计的先进图像传感器测试系统。 - 优化以实现高吞吐量和低测试成本。 - 支持广泛的图像传感器技术和配置。 - 灵活的架构以适应不断变化的设备需求。 - 专为生产环境中的可靠性和可扩展性而设计。 优势和配置: - 高密度引脚电子设备用于并行测试。 - 可配置的测试资源以满足设备需求。 - 用于测试开发和数据分析的综合软件工具。 - 与自动处理系统的无缝集成。 典型应用: - CMOS和CCD图像传感器的测试。 - ...
... 概述
Tektronix MP5000 模块化精密测试系统在设计之初便为扩展升级做好准备。今日可混搭 SMU 与 PSU 模块，后续可按需扩展。凭借高通道密度与快速模块更换能力，该系统能最大限度减少停机时间并提升吞吐量，适用于从验证到量产的多种测试场景。
产品亮点
- 高通道密度：单台 1U 主机最多支持 6 个独立通道
- 模块化：在同一主机中混搭 SMU（源测量单元）与 PSU（电源）模块
- 热插拔与快速更换：简化模块拆装，缩短维护停机时间
- 独立插槽电源控制：避免整机停机以维护单个模块
- 仪器端脚本处理（TSP）：在仪器上执行脚本以加速自动化并降低