板材测厚仪

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便携式测厚仪
便携式测厚仪
700 series

测量范围: 0 mm - 12 mm
测量精度: 0.02 mm

... 这是一款轻便的测厚仪,只有手掌大小。 ...

激光测厚仪
激光测厚仪
thicknessGAUGE C.L

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象,最好用于普通表面的厚度测量,如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产,以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
thicknessGAUGE C.C

测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm

... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外,这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面,以及(半)透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产,以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测(可选现场总线接口) 测量系统能力的验证 ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
thicknessGAUGE C.LP

测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz

... thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描器在被测表面上投射出一条激光线。激光线可以补偿板带的倾斜,并实现轮廓的平均化。激光线测量技术使得测量结构性材料的厚度成为可能,如压花表面和穿孔板。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产,以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

膜厚度测量仪
膜厚度测量仪
i-Thickness 4100 • 0~2mm

... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米(标准),0 〜 6 毫米,12 ...

便携式测厚仪
便携式测厚仪

测量范围: 100 mm
分辨率: 0 mm

... MICROTECH 推出多种配备亚微米指示器的电脑测厚仪。 大型测厚仪有多种型号,测量范围可达 100 毫米(0-4 英寸),深度可达 800 毫米。此外,还可以根据客户要求生产任何尺寸的厚度测量仪。 该亚微米测厚仪配有 MICROTECH 公司生产的精密亚微米指示器。 高精度亚微米计算机智能指示器由 MICROTECH 研发。 该精密称重显示器的主要优点是采用了 MICROTECH 的计算机测量系统。 与同类称重显示器相比,它的分辨率可达0.1微米,精度更高。 此外,称重显示器的计算机测量模块还配有内部存储器、带彩色显示的Go/NoGo功能、最大/最小值、公式功能、手动温度补偿和误差补偿功能。 彩色显示屏和触摸屏为亚微米级称重显示器提供了更高的可用性。 内置可充电锂聚合物电池,无需额外购买电池。 内置无线数据传输模块,可将测量数据和内存数据传输到 ...

内壁测厚仪
内壁测厚仪
WARP

测量范围: 60 mm

WARP portable手持式测量仪是一款基于雷达波技术的移动手持测量设备,用于选择性壁厚测量,专为中、大型管道挤出和片材设计。该系统可以灵活使用,既可以作为开机过程中的快速定心辅助装置,也可以用来给成品管做终检,或给库存管做测量。它不仅适用于管材末端的测量,对于管材或片材任何部位的测量,都可以轻松进行。测量本身只需按动测量按钮即可完成。系统会自动记录最新的500个测量值,包括管道上测量的角度和时间。 超过400台的WARP portable手持式测量仪销量是其优秀性能的最佳证明。 几经验证的成熟技术现在也可用于工业包装领域。 由于雷达测量技术的准确性和可靠性,已在管道挤出行业应用多年。由于其灵活性,它的应用范围非常广泛,因此也适用于众多工业包装领域。 iNOEX ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
SK-tFTM-IR series

测量范围: 950 nm - 1,650 nm

... 红外线片材厚度监测仪测量半透明片材的厚度,如电池隔膜、低反射涂层,如黑色抗蚀剂和硅。它可以用于从实验室水平到生产中的在线100%检测的所有应用。红外吸收系统由一个紧凑的镜面探头和一个透射式光学系统组成,可以同时测量多个参数,如100多个波长的薄膜厚度、密度和成分。 1 测量半透明片、低反射膜、硅等的厚度,这在光学干涉仪中是很难做到的 2 紧凑的探头 通过采用一个30毫米的小反射探头,它可以安装在设备或生产线的小空间里。此外,由于探头只用一根光缆与主体连接,因此具有良好的耐环境性。 3 ...

固定式厚度测量仪
固定式厚度测量仪
METRIX FILM

... Metrix FILM 用于测量静态或动态薄膜或部件的厚度,可离线或在线测量。 用于非接触式厚度控制 METRIX FILM传感器是LVDT和气动传感器的独特组合。 它们可以进行非接触式测量,具有很高的精度和准确性,并兼容在线使用。 应用 METRIX FILM的应用包括塑料薄膜和橡胶条挤出生产线的厚度控制。它也适用于各种形式的产品(如板、膜、垫、片、粒)。 它与材料的颜色或亮度无关。 为什么它是独一无二的? 精确、准确的厚度测量。 低至微米级或更高,低R&R量规。 可变性测量 适用于各种形式(如板、膜、垫、片、颗粒),且与材料的颜色或亮度无关。 材料友好型控制 与非接触式气动传感器,可以保持材料的完整性。 在线测量选项 用于运动部件或薄膜的自动测量。 ...

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