齿轮三坐标测量仪 TomoScope® XS Plus

用于透镜光学计算机断层扫描CT

在探测器的视场内用X射线断层扫描进行测量，用于制造和测量室。 TomoScope® XS Plus能够以高分辨率或缩短测量时间来测量较大的工件和较小的物体。在所有坐标轴上具有几乎任何可调分辨率的完整工件体积（高达600亿体素）可作为测量结果。应用包括3D测量，例如连接器、塑料外壳和盖子、3D打印工件、包装、PET瓶和预制件。 • 传输管– ，首次采用单体设计– ，即使在高管功率下也能实现小焦斑，因此可以进行高分辨率的快速测量 该X射线源结合了封闭式和开放式微聚焦X射线管的优点 • 停机时间和运营成本降到最低 • 与传统的坐标测量机一样，整个机器的维护周期只有一年 • OnTheFly断层扫描和实时重建允许快速测量 • 根据VDI 2617 ，进行符合标准的校准，以获得可靠和可追溯的测量结果，可选的有DAkkS 证书 测量范围 最大。工件尺寸D = 289 mm / L = 456 mm（取决于工件的长宽比）。 准确度 允许的长度测量偏差达4,5 µm