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FIB/SEM显微镜 AMBER X
用于分析镜头内SE模块化

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产品规格型号

分类: FIB/SEM
专业应用类型: 用于分析
探测器类型: 镜头内SE
其他特性: 模块化, 超高解析度

产品介绍

等离子体FIB和无现场的UHR FE-SEM的独特组合，用于多尺度材料的表征。 - 高吞吐量、大面积FIB加工，最高可达1毫米 - 无Ga的微观样品制备 - 超高分辨、无场域FEG-SEM成像和分析 - 透镜内SE和BSE检测 - 高通量、多模态FIB-SEM断层扫描的分辨率优化 - 优异的视野，便于导航 - Essence™易于使用的模块化图形用户界面

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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)