SEM显微镜 MIRA

质量控制用于研究用于检查材料

高分辨率分析扫描电镜，用于亚微米级的常规材料表征、研究和质量控制应用。 TESCAN MIRA的第四代扫描电子显微镜(SEM)与FEG肖特基电子发射源相结合，在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中，将SEM成像和实时元素成分分析结合在一起。这种组合大大简化了样品的形态学和元素数据的采集，使MIRA扫描电子显微镜成为质量控制、失效分析和研究实验室日常材料检测的高效分析解决方案。 - 分析平台采用完全集成的TESCAN Essence™ EDS，在一个Essence™软件窗口中有效地将SEM成像和元素成分分析结合在一起。 - 由于采用了TESCAN独特的无孔径光学设计和飞行光束追踪技术，可立即获得最佳的成像和分析条件。 - 由于采用了独特的宽视野光学设计，可以在低至2倍的放大倍数下轻松、精确地对样品进行SEM导航，不需要额外的光学导航相机。 - SingleVac™模式是观察充电和光束敏感样品的标准功能。 - 直观和模块化的Essence™软件，无论用户的经验水平如何，都能轻松操作。 - 当平台和样品处于运动状态时，Essence™ 3D碰撞模型保证了检测器的安全性。 - 可选配柱内SE和BSE检测器，包括光束减速技术，以提高低加速电压下的成像性能。