液体分析仪 TFA-2

实验室食品工业用于美容产品

概述
TFA-2 Thin Film Analyzer（SINTERFACE）为处于开发阶段的平台，用于微观泡沫和乳液薄膜的定量表征。该系统将干涉计膜厚测量、直接光学观察与压力可控测量腔相结合，可在单一实验平台上研究膜的形成、变薄、破裂、黑膜形成及薄膜内的排斥压力（disjoining pressure）。该系统为高精度薄液膜研究与可配置的测量流程而设计。

核心功能

• 干涉膜厚测量，用于高精度膜厚评估
• Thin Liquid Film Pressure Balance 技术，用于受控稳定性研究
• 膜稳定性分析：排水、变薄行为及破裂观测
• 集成倒置显微镜与数字成像，实现连续可视化
• 黑膜与黑点观测（双层结构）
• 使用温度可控测量腔进行温度控制实验

性能要点

• 膜厚分辨率：±0.2 nm
• 膜厚范围：30–100 nm（可表征稳定、变薄和平衡膜）
• 排斥压力测量范围：10–10000 Pa
• 温控范围：10–80 °C

测量原理
仪器在压力可控的测量腔内形成微观液膜，并通过倒置显微镜进行观察。入射并在膜界面反射的单色光产生干涉信号，从中计算出膜厚。通过同时控制毛细压力，系统将膜厚、排水和稳定性与膜内的排斥压力相联系。

光学与硬件

• 集成倒置显微镜
• 用于实时显微图像采集的数字 CCD 相机
• 用于干涉分析的单色光源
• 光电传感模块 / 光学检测
• 压力可控测量腔
• 用于可重复热条件的温控测量腔
• 集成压力控制单元
• 石英光学窗口

软件与分析

• 膜厚实时评估
• 干涉分析与光学轮廓分析
• 压力序列控制与排斥压力分析
• 膜排水评估与实验的图形化展示
• 数据导出以供科学评估（兼容 Windows）

可选模块与配件

• 专用测量腔（多种类型）
• 压力控制配件与相关组件
• 光学配件与滤光片（例如精密滤光片）
• 多孔板组件
• 光电传感模块及温控配件

应用

• 泡沫稳定性及泡沫薄膜研究
• 乳液稳定性及微观乳化膜研究
• 表面活性剂研究及吸附对膜稳定性的影响
• 食品与饮料配方研究（泡沫/乳液体系）
• 化妆品乳液与配方稳定性
• 界面基础科学：排斥压力、黑膜形成、分子间相互作用

备注
TFA-2目前处于开发中，并非持续供应。具体数值与功能可能因配置、测量模式及可选模块而异。