热力循环测试仪 SM-TTS-D

温度用于传感器用于电子部件

SANWOOD 台式热循环测试系统 SM-TTS-D SANWOOD SM-TTS-D 将快速、组件级别的热循环测试带入实验室工作台。其台式设计使工程师能够将系统放置在样品夹具和电气测量设备旁边。 两个热测试头将温控空气导向两个器件，从而可同时对两个样品进行测试。 技术规格 型号 — SM-TTS-D 外形 — 台式 测试配置 — 两个热测试头，可同时对两个设备进行测试 温度控制范围 — −80°C 至 +225°C 典型空气温度转换时间 — 在 −55°C 至 +125°C 范围内，每个方向约 10 秒 系统风量输出 — 4–18 scfm (1.89–8.50 L/s) 温度控制模式 — 空气模式和被测设备（DUT）模式 应用领域 专为封装集成电路、传感器、光模块和汽车电子元件的热特性分析、可靠性测试及失效分析而设计。 如需配置方案，请提供您的样品尺寸、夹具布局及目标温度曲线。 电子邮件 — [email protected]