附着力测试仪 Qscratch 20

用于涂层实验室台式

简介
Qscratch 20 是一款全自动宏观/微观划痕测试仪，用于涂层、功能性表面和承受关键载荷的部件的质量控制。系统结合了受控施力、精确的电子载荷控制、集成光学成像以及 QpixControl2 引导式工作流，实现可复现的进式或恒载划痕测试、结构化评估、文档记录与报告生成。

产品优势

• 用于涂层与表面的全自动宏观/微观划痕测试仪
• 支持单次与多次测量，便于高效测试系列
• 电子力控，试验力范围 0.5–200 N
• 恒载和递增载荷模式，满足标准化测试要求
• 8 位电动刀具换位器，支持测试模块与物镜切换
• 电动 X/Y/Z 轴，高精度定位
• QpixControl2 软件，带引导式划痕流程与自动 Lc 事件识别
• 可选硬度升级及 Qpix Inspect 分析模块，扩展显微评价能力

测试方法

• 递增载荷（PFST / ASTM PL）：定义初始/终止载荷及加载速率，载荷沿划痕长度增加，将可见事件标注为 Lc 点。
• 恒载（CFST / ASTM CL）：法向力在划痕长度上保持恒定，适用于单次测量、序列比较及重复性 QC 条件。

标准与程序

• DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — 使用划痕试验评估硬质陶瓷涂层的粘附性与机械失效模式
• ISO 27307 — 热喷涂陶瓷层的粘附/内聚性评估（横向划痕）
• ASTM G171 — 使用规定金刚石划针的划痕硬度测定及残余划痕宽度评估

光学与成像系统
Qscratch 20 采用 QATM 自研物镜系统，配合 Köhler 照明、白色 LED 光源与电动光阑，实现与高端显微镜可比的高对比度、高放大倍率成像。可选内置样品相机（A+ 版）提供 5 MP 彩色概览图像（视场 52 × 39 mm）用于导航与记录。

操作与用户体验
QpixControl2 的引导式操作支持试验创建、划痕位置的可视定位、单/多次测量、自动 Lc 事件评估、图像采集与数据导出及标准化报告。自动化与实验室集成特性包括条码/二维码/NFC 集成、物联网连接及自动软件更新（功能视配置而定）。

可选分析模块（Qpix Inspect）

• 磨坑法（Crater-grinding）：涂层显微厚度测量（DIN EN ISO 26423）
• Rockwell 附着试验：陶瓷涂层附着的定性评估（DIN EN ISO 26443）
• 相分析、颗粒尺寸、焊缝测量及其他显微评价工具集成于 Qpix Inspect

适用于实验室
为日常就表面相关问题做出关键决策的实验室设计：标准化且高重复性的划痕试验、高效文档管理、直观工作流以及可选的硬度与分析功能，将测试整合至单一平台。

技术规格

• 试验力范围：0.5 - 200 N
• 试验模式：恒载和递增载荷（单次与多次测量）
• Z 轴：动态自动化（CAS），Z 行程 150 mm
• 刀具位数：8 位电动刀具换位器（最大 3 个测试模块，最大 7 个物镜）
• 基础设备含：Rockwell 金刚石；5×、20×、50× 物镜
• 物镜类型：标准（消色差）与高品质（半消色差）用于硬度测试与显微镜观察
• 样品相机（可选 A+）：5 MP CMOS 彩色，USB3.0，视场 52 × 39 mm
• 电动 X/Y 轴（十字台）定位精度 X/Y ±0.2 µm
• 工作台尺寸：150 × 120 mm
• 移动行程：X 150 mm，Y 150 mm
• 控制元件：急停、启动按钮、X/Y/Z 操纵杆
• 最大工件重量：50 kg
• 主机重量：60 kg
• 可选：硬度升级（Vickers/Knoop/Brinell/Rockwell）及 Qpix Inspect 分析模块
• 备注：*0.5 N 与 1 N 的精度 > 1%