AFM显微镜 Alphacen 300

工业自动化

适用于 300 毫米以下的重型和大型样品的尖端扫描 AFM • 标准 AFM 系统 • 300 毫米 x 300 毫米样品级 • 适用于高达 45 kg 的样品 Nanosurf 是定制大型和重型样品系统的市场领导者。 在过去的几年里，我们的团队已经建立了一个丰富的知识库，为不同的客户开发了这些定制阶段。 利用这一丰富的知识，我们现在开发了适用于 300 毫米以下的大型样品或 45 千克以下的重型样品的标准产品。 与自定义系统相比，Alphacen 300 减少了价格和交货时间。 运行自动化测量系列 Alphacen 300 包括强大的自动化软件，允许用户在光学图像或舞台地图上预选感兴趣的位置，并让系统在无需用户干预的情况下收集图像。 重型玻璃样品 大多数大型样品 AFM 能够处理高达 200 毫米的平面样品，通常用于半导体晶圆分析。 然而，这些系统的一个局限性是它们可以处理的样品重量。 Alphacen 300 满足了对标准 AFM 的需求，能够对重量限制高达 45 公斤的大型和重型样品进行成像。 50 mm 的 Z 级行程还允许对非薄硅晶片的样品进行成像。 大型、重型样品在光学行业中相当普遍，例如在大型镜头的生产和半导体行业，例如组装盒式磁带或完成的产品。