厚度测量仪器 ZENITH
距离光学非接触式

厚度测量仪器 - ZENITH - MARPOSS - 距离 / 光学 / 非接触式
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产品规格型号

测量对象
厚度, 距离
技术
光学, 非接触式, 共焦
应用
工业, 实验室

产品介绍

ZENITH控制器是适应工业环境的色度共聚焦控制器的新基准。基于以太网标准通信,ZENITH允许高精度的测量,无需接触,也没有改变部件的风险。 它的坚固性、易用性和实施性是为24/7(一天24小时,一周7天,一年52周)运行而设计的。 泽尼特的各种优势中包括在所有类型的表面和材料上以非常高的分辨率测量距离和厚度,包括反射表面。 泽尼特控制器与所有STIL传感器头兼容。CL-MG, OP, Endo, Everest... 灵活,泽尼特控制器的性能适用于每个测量范围。 泽尼特控制器由新一代的部件组成,与大量的STIL点式传感器头结合,可以提供出色的计量性能(低至纳米)。 自2022年以来,"泽尼特 "控制器一直按照最高质量标准制造,是一种坚固可靠的产品,适合在工业和实验室环境中使用。 该基准的最大频率为5000赫兹,可在多种应用环境和任何类型的表面反射率上提供解决方案:透明或不透明,明亮或漫反射。 - 通过更高的动态(15比特)增强性能 - 带有以太网连接(GigE)的工业解决方案 - 多达五个编码器的输入,是CMM的完美选择 - 同步化。用于多传感器测量的主从模式,编码器触发功能

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展厅

该卖家将出席以下展会

IMTS
IMTS

14-19 9月 2026 Chicago (美国-伊利诺斯州)

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    AMB
    AMB

    15-19 9月 2026 Stuttgart (德国)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。