概述-50 °C 至 +200 °C,芯片尺寸 1.6 x 1.2 mm,具有可焊接的 Au 焊盘和金属化背面。通过金属化背面提升热耦合,适用于半导体与微电子、医疗设备、航空航天与国防、工业仪表、电动出行及汽车等需要紧凑集成的场合。
主要特性- 铂 Pt1000 电阻温度检测元件,IEC 60751 F0.3 精度
- 可焊接 Au 焊盘,适用于键合或倒装芯片组装
- 金属化背面以增强热耦合
- 用于 MEMS、多芯片模块和混合电路的紧凑芯片封装
- 可按客户要求提供定制版本
应用- 混合电路或多芯片模块中的嵌入式温度检测
- 高密度集成电路的热管理
- 用于诊断的高精度温控实验室芯片系统
- 敏感仪器或制导系统的热监测
- 光学和裸片封装集成,LED 或高功率 IC 的温度控制
- 电动汽车的电池管理系统
- 功率电子的热监测
价格(每件)数量(件) | 价格(每件)
10-49 | CHF 14.94
50-99 | CHF 13.54
100-150 | CHF 12.62
产品详情零件号:P1K0.161.3FC.B.M。产品代码:100797。芯片托盘包装,传感器面朝上。铂 RTD 优化用于紧凑集成,并通过金属化背面和可焊接 Au 焊盘改善热耦合。属于 IST AG 铂传感器系列,提供多种尺寸和精度等级。
技术规格- 标称电阻:0 °C 时 1000 Ω
- 工作温度范围:-50 °C 至 +200 °C
- TCR:Pt 3850 ppm/K
- 芯片尺寸:1.6 x 1.2 x 0.25 mm
- 公差 / 等级:IEC 60751 F0.3(IST AG 公差等级 B)
- 连接类型:可焊接 Au 焊盘
- 特殊:可焊接 Au 焊盘,金属化背面
- 包装:芯片托盘,传感器面朝上
- 可用性:库存 100 件