- 工业检测、测量设备
- 光学测量、声学测量仪表
- 光谱分析椭偏仪
- HORIBA Scientific
光谱分析椭偏仪
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 技术参数
- 光谱分析
产品介绍
“ Horiba提供薄膜质量管理的各种各样的解答。象原地和线型的大多ellipsometer用于控制过程在研究和在产业。从薄膜监视到大区域映射和灵活的设备的轴向描述特性。原地分光镜ellipsometers许可证实时监控与子单层决议的薄膜证言。它提供胶片厚度和光学constants. \ /html的实时估计”
---
PDF产品目录
该产品还没有PDF产品手册
查看HORIBA Scientific的所有产品目录展厅
该卖家将出席以下展会
HORIBA Scientific 的其他产品
other products
* 显示价格为参考价，此价格不含税、不含运费、不含关税，也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。