- 工业检测、测量设备
- 光学测量、声学测量仪表
- 光谱分析椭偏仪
- HORIBA Scientific
光谱分析椭偏仪
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
产品规格型号
- 技术参数
- 光谱分析
产品介绍
“ Horiba提供薄膜质量管理的各种各样的解答。象原地和线型的大多ellipsometer用于控制过程在研究和在产业。从薄膜监视到大区域映射和灵活的设备的轴向描述特性。原地分光镜ellipsometers许可证实时监控与子单层决议的薄膜证言。它提供胶片厚度和光学constants. \ /html的实时估计”
---
PDF产品目录
该产品还没有PDF产品手册
查看HORIBA Scientific的所有产品目录
