紫外线可见小型分光计 C16767MA
紫外线CMOS半导体工业

紫外线可见小型分光计 - C16767MA - HAMAMATSU/滨松公司 - 紫外线 / CMOS / 半导体工业
紫外线可见小型分光计 - C16767MA - HAMAMATSU/滨松公司 - 紫外线 / CMOS / 半导体工业
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产品规格型号

类型
CMOS, 紫外线可见, 紫外线
应用领域
用于光谱分析, 半导体工业
配置
超紧凑型
其他特性
高敏感度, 凹面光栅
波长

最少: 190 nm

最多: 440 nm

长度

2.01 cm
(0.79 in)

宽度

1.25 cm
(0.49 in)

高度

1.01 cm
(0.4 in)

产品介绍

概述
C16767MA是一款针对紫外波段(190–440 nm)优化的高灵敏度超小型光谱仪头,支持从深紫外到近紫外的测量,适用于集成到紧凑或移动的测量设备中。

特性
  • 指尖尺寸:20.1 × 12.5 × 10.1 mm
  • 重量:5 g
  • 光谱响应范围:190–440 nm
  • 针对UV测量的高灵敏度
  • 光谱分辨率:最大 8 nm,典型 5.5 nm(FWHM)
  • 支持同步积分(电子快门功能)
  • 适合集成到移动测量设备
  • 波长换算系数在最终检验单上注明


应用 / 使用示例
  • 水质分析(测量示例:硝酸、亚硝酸、BOD)
  • 大气分析(NO、SO2 等)
  • UV‑LED 及紫外波段监测:UV‑A、UV‑B、UV‑C
  • 半导体工艺监测(等离子体、气体等)


技术与结构
C16767MA系列采用通过刻蚀工艺制成且带有集成狭缝的CMOS线性图像传感器,以及通过纳米压印光刻制造的反射凹面衍射光栅。图像传感器经过UV耐受性增强,并在传感器上通过专有光电半导体工艺形成抑制杂散光的滤光层,以减小衍射产生的杂散光。

附加技术说明
模块为非制冷型,采用带狭缝的一维CMOS图像传感器;像素总数:288。除非另有说明,测量条件:Ta = 25 °C。

技术参数
  • 光谱响应范围:190–440 nm
  • 光谱分辨率(FWHM)(典型):5.5 nm
  • 光谱分辨率(FWHM)(最大):8 nm
  • 制冷:无制冷
  • 内置传感器:带狭缝的CMOS线性图像传感器
  • 像素总数:288 像素
  • 测量条件:典型 Ta = 25 °C(除非另有说明)
  • 尺寸:20.1 × 12.5 × 10.1 mm
  • 重量:5 g
  • 支持同步积分(电子快门)

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