性能测试系统 HATINA GP

汽车应用用于电子工业集成电路

产品概述
HATINA GP 是一款面向智能功率 IC 与 SoC 的自动测试设备（ATE）平台，专为高并行度的特性验证与量产测试设计。系统采用模块化主框架，最多可配置 10 个插槽，集成模拟/电源、数字通道与高阶测量仪器，具备紧凑与能效优势。通过图形化界面进行控制，Kronos 软件支持测试程序的自动生成，加速开发与量产部署。

关键能力
HATINA GP 支持每插槽灵活组合仪器：高速数字通道、高电流 DC 电源与精密测量单元。模块化主框架便于扩展与维护。每个插槽的资源示例包括高速数字 I/O、PPMU 与有源负载、高电流 DCS 模块、AWG、数字化仪与差分电压计，适配晶圆级与封装件测试流程。

选择理由

• 集成多路复用器以减少负载板复杂性
• 并行测试效率 >99%，以降低测试成本（COT）
• 模块化仪器设计以适应市场和技术演进
• 占地小、能耗低以优化运营成本
• 配合 Kronos 实现测试程序自动生成，缩短开发周期

概述 / 适用场景
适用于汽车、工业与电源管理等领域的 ASIC、PMIC、智能功率 IC/SoC 的高并行测试。支持晶圆级探针测试与封装件测试，简化负载板设计并易于集成到自动化产线中。典型的每插槽资源包括：数字通道（每插槽最高可达 256 CH，部分板卡支持更高速率），高电流 DC 源、精密测量模块、AWG 与数字化仪。

规格摘要

• 型号系列：HATINA GP（通用 ATE）
• 主框架：模块化，最多 10 个插槽
• 尺寸（D×W×H）：640 mm × 670 mm × 700 mm
• DCS HP：16 通道，±80 V / ±10 A，浮空
• DCS LP：160 通道，-80 V / +110 V @ ±200 mA
• DCS MP：80 通道，-80 V / +110 V @ ±4 A
• 数字：每插槽最高 256 个数字通道；每板 256 CH；PPMU；有源负载
• Pattern 内存：每针 64M（可达 128M）
• 内存深度：每针 64M 向量 DSIO / HRAM
• AWG：16 通道，400 MSPS
• 数字化仪 / TMS：16 通道，80 MSPS
• 差分电压计：16 通道
• 每插槽数字通道：视板卡而定（详表中引用可达 800 MHz）
• 软件：集成 Kronos 测试程序自动生成工具集