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- Chotest Technology Inc.
测量探头 SuperView WX100 灯光光学
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产品规格型号
- 类型
- 测量
- 物理量
- 灯光
- 所用技术
- 光学
产品介绍
SuperView WX100 白光干涉测量探头
功能
测量功能：可实现对样品表面的高精度 Z 扫描，并获得 3D 图像。
分析功能：可获得二维和三维数据，如表面粗糙度、微纳米级轮廓尺寸等。
编程功能：支持预先配置的数据处理和分析工具步骤，一键完成从测量到分析的全过程。
批量分析：可根据客户需求定制数据处理和分析模板，一键实现同类型参数数据的批量分析。
半导体、抛光硅片、薄硅片、晶片集成电路
3C 电子、蓝宝石玻璃粗糙度、金属外壳模具缺陷、玻璃屏幕高度差
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