Andor 的独立式 USB 2.0 iKon-M SY 934 系列具有高 QE、背照式传感器,用于直接检测 X 射线。方便的铍箔窗口可阻挡可见光波长,将 X 射线能量的 "光束硬化 "降到最低,直接检测能量范围为 20keV。
- 独立 "铍窗口
- 多兆赫读出
- 裁剪模式操作
- USB 2.0 连接
Andor 的独立式 USB 2.0 iKon-M SY 934 系列具有高 QE、背照式传感器,可直接检测 X 射线。方便的铍箔窗口可阻挡可见光波长,将 X 射线能量的 "光束硬化 "降到最低,直接探测的能量范围为 20keV。
这种 1024 x 1024 传感器阵列具有 13 x 13 μm 像素,可提供高动态范围和高空间分辨率。通过软件无缝选择一系列千赫和多兆赫读出速度,可分别提供极低的读出噪声和更快的帧速率。
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