数字摄像机 iKon-M SO

工业探测X射线

安道尔的 USB 2.0 ikon-M SO 系列具有高 QE 传感器，可直接检测软 X 射线 EUV 或 VUV 光子。方便的 16 点刀刃密封式 6" 可旋转 CF152 法兰为任何兼容的真空室接口提供了坚固耐用的高效密封。 - 开放式前端 - 峰值 QE 为 95 - 13 x 13 μm 像素尺寸 - TE 冷却至 -100°C - 超低噪声读出 Andor 的 iKon 系列结合了 > 95% QE 的背照式传感器、低噪声读出电子元件和业界领先的低至 -100°C 的免维护深度 TE 冷却技术，具有出色的灵敏度性能。它具有高分辨率的 100 万和 420 万像素大面积传感器选项（像素分别为 13 和 13.5 μm），可在紫外和软 X 射线范围内同时进行高动态范围和高空间分辨率成像。 方便的 16 点刀口密封 6" 可旋转 CF-152 法兰为任何兼容的真空室接口提供了坚固、高效的密封。iKon-M 和 -L 还提供 USB2 接口和 Labview 或 EPICS 兼容性，可无缝集成到复杂的设置中。 Andor 的 iKon 系列结合了 > 95% QE 的背照式传感器、低噪声读出电子元件和业界领先的低至 -100°C 的免维护深度 TE 冷却技术，具有出色的灵敏度性能。它具有高分辨率的 100 万和 420 万像素大面积传感器选项（像素分别为 13 和 13.5 μm），可在紫外和软 X 射线范围内同时进行高动态范围和高空间分辨率成像。