- 计量设备、实验室仪器 >
- 计量和测试仪器 >
- 厚度测量系统 >
- Nikon Metrology
Nikon Metrology厚度测量系统
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。
Nikon Metrology
... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...
Nikon Metrology
... /高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术,具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量,二维或三维,检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示,便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量,可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB ...
Nikon Metrology
数显高度计MF-1001 / MF-501 / MH-15M 光栅尺内置的数字测量仪。可以0.01μm的最小读数测量小型精密仪器和电子零件的厚度、高度差等。 数显高度计 有3种测量头可供选择。还有各种计数器、底座、测头等,可以满足各种测量需求。 三种测头,两种计数器 三种测头型号是 ...
Nikon Metrology
为提升搜索质量,您认为我们应改善:
请说明:
您的建议是我们进步的动力:
剩余字数