MITUTOYO/日本三丰光学测量系统

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光学测量系统
光学测量系统
C12562-04

... NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 ...

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HAMAMATSU/滨松公司
光学测量系统
光学测量系统
C10178-03E

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器,可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点,同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。 特点 • ...

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HAMAMATSU/滨松公司
反射率测量系统
反射率测量系统
C11295

Multipoint NanoGauge 膜厚测量系统 C11295 是一种利用光谱干涉法的薄膜膜厚测量系统。作为半导体制造过程的一部分,它旨在测量薄膜厚度,以及用于对安装在半导体制造设备上的 APC 和薄膜进行质量控制。允许实时进行多通道测量,可在薄膜表面同时进行多通道测量和多点测量。同时,它还可以测量反射率(透射率)、物体色及其随时间的变化。 特点 • ...

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HAMAMATSU/滨松公司
停止时间测量系统
停止时间测量系统
NMG2

... 参照EN ISO 13855,用于测量机器的停机时间的系统 集成点阵打印机,RS232 安全距离的计算 校准证书(ISO 9001)。 ...

平面度测量机
平面度测量机
Tropel® FlatMaster®

... Tropel® FlatMaster® 为精密组件制造商提供行业领先的表面形状测量性能。 我们的非接触式光学技术在几秒钟内记录整个表面。 FlatMaster® 提供 5 纳米分辨率和 50 纳米(2.0 μ”)的标准精度。 它可以快速准确地测量各种表面的平坦度、线轮廓、半径和其他表面参数。 FlatMaster® 的多种标准版本可用于优化不同元件尺寸范围内的精度。 ...

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
PowerCEMS100

... 面向未来的投资,因为系统可以很容易地进行调整以满足未来的需要 调试容易,主管部门对测量系统的现场批准无困难 由于电气和分析器组件的明确分离,易于维护 采用CAN总线技术的模块更换方便快捷,可用性高 PowerCEMS100连续排放监测系统(CEMS)是经济上和技术上完美的萃取测量任务的解决方案。这个多合一系统包括高质量的标准组件和部件,由于其模块化的系统设计,可以适应具体的应用要求。改装分析器模块或气体调节器很容易,而且成本很低。创新的PowerCEMS100系统通过了欧洲标准EN ...

温度测量系统
温度测量系统
ContiPressureCheck™

... ContiPressureCheck™能立即检测到轮胎压力和温度的任何变化。 ContiPressureCheck™是一个直接安装在轮胎内部的测量系统。如果充气压力下降,轮胎在滚动时可能会受到更大的压力,导致轮胎发热,从而损坏轮胎,甚至导致爆胎的发生。ContiPressureCheck™使用轮胎内部的传感器持续监测充气压力和轮胎温度,以防止这种情况发生。 更多信息 ContiPressureCheck™适用于哪些车辆? ContiPressureCheck™具有高度的兼容性和通用性。 ...

湿度测量系统
湿度测量系统
HUMY series

... 筒仓、漏斗等地方。在批处理过程中也可以进行在线湿度测量测量时,在高频范围内测量固体的相对介电常数和高频衰退。测量过程简便,校准时间短,精度高达 0.1%。测量探头以数字方式传输数据。除了温度和老化漂移自动补偿、数字和警报退出之外,系统监控本身还集成了数据记录器。设备通过两个模拟输出口输出测量值,并可通过两个数字输入口或 ...

平面度测量系统
平面度测量系统

... 对于要求平面度小于 100 微米的任何表面,市场上都有利用 XY 工作台的 Z 轴光学检测系统。这些系统的价格不菲(接近 3 万美元),尤其是当目标零件尺寸大于 12 英寸(300 毫米)时。 一般来说,在制造过程中,磨削后的表面重复性好,可能不需要 100% 的检测。应用多点平面度检测板,通过 32 个点的空间阵列来突出已知的与完美平面的最大偏差,可以实现更低成本的解决方案,但却能获得 ...

温度测量系统
温度测量系统
PA 40-K016

... 测量高炉炉顶温度的完整解决方案 ...

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
DischargeApp

... 小时内建立起来。执行一次测量只需不到一分钟。 可靠的测量。每次测量都向用户提供水位、水面速度和排水量。所得的排水量是通过考虑水体表面的整个速度场计算出来的,这极大地提高了测量的准确性。 可升级。一旦建立了一个站点,其他用户就可以进行测量,从而可以收集更多的数据。 非侵入式。DischargeApp从水面的结构中提取速度信息。它不依赖于任何化学或粒子追踪器。这也使得这种测量技术在洪水事件中的使用是安全的,因为在洪水事件中,通过进入水面进行测量是非常危险的。 证明图像。每一次测量都会有图片证明。 ...

托盘高度测量系统
托盘高度测量系统
CN.1000

... 动态尺寸测量、称重和扫描系统 全自动货物测量系统,用于检测传送带上的托盘。一体化:尺寸测量 + 称重 + 图像采集 + 条码扫描。既可作为独立解决方案,也可作为托盘输送系统的组成部分。通过条形码扫描仪扫描的装运条形码识别托盘。数据在本地数据库中进行处理,并与上层 ...

位置测量系统
位置测量系统

描述:【保温杯视觉测温系统】采用红外热成像图、进行多模态融合和图像的精确配准,根据不同的温度成像效应判定不良品,然后利用机械手进行不良品分拣。 数据参数:识别率大于99%,误检率小于1%,20万次/月的测温量,处理速度小于20s/个

重量测量系统
重量测量系统
LU-DT-ASC-K

... 用于安装搅拌器。 装置内容 不锈钢容器、移动底座、称重传感器、控制面板 结合 "称重 "功能,可以有多种用途。 测量送入搅拌器的物料量 与一个自动阀结合,可以喂入和排出固定数量的原料。 与自动阀和搅拌器相结合,可用于测量固定数量的送入、搅拌和排出的搅拌物料。 重量是由连接在支架上的称重传感器测量的。测量结果可以在控制面板显示器上检查。 其规格是这样的:即使容器因搅拌等而摇晃,也不可能出现测量误差。 容器为镜面板型,具有良好的搅拌效率。 容器和底座是可分离的,只有容器可以被拆下清洗。 照片仅是一个图像 ...

容量测量系统
容量测量系统
MGAprime Q

... 便携式自动测量系统(PAMS)适合作为QAL2和AST范围内校准和验证固定式AMS的标准参考方法,符合EN 14181标准 基本-设备 - 附带免费的MRU校准证书,TÜV证书 - 带有HPI气体采样探针头,为低尘气体滤芯集成加热器、 配有3米长的加热特氟隆采样管,用户可自行设定分析仪的温度调节、 使用K型(NiCrNi)热电偶测量气体温度 探头包括低尘气体滤芯和一根Ø12 ...

流量测量系统
流量测量系统
DF 252

... 利用皮托管的动态压力测量原理,连续测量烟气流速(米/秒)的平均数 基本-设备 防雨玻璃纤维外壳的装置 不锈钢探针管300至1000毫米,探针头部有差压变送器和控制单元 进入烟囱表面后的流速计算(立方米/秒 带有烟气温度和绝对压力测量 带有用于低环境温度的可选加热器和用于含尘烟气的可选反吹装置 ...

几何特征测量系统
几何特征测量系统
202864

长度测量系统
长度测量系统
MSX-E3701

... 用于长度测量的 MSX-E3701 / MSX-E3700 以太网系统有 8/16 个输入端,用于电感式传感器(半桥、LVDT、Mahr 或 Knaebel)和 1 个 24 V 数字输出端,带比较逻辑。该系统专为恶劣工业环境下的动态长度测量而开发。它采用坚固的标准金属外壳,防护等级为 IP 40 (MSX-E3700) 或 IP ...

容量测量系统
容量测量系统
9751

... 体积测量系统 - 光栅框架(发射机/接收机原理)。 - 纳入带状缺口 - 立方体和不规则物体 - 可根据OIML R129进行核查。 - 动态获取 特点 基于光栅的9751体积测量系统解决了物体测量领域的高要求应用。基于光栅,它可以精确测定物体的最小包络立方体,无论其表面状况如何。特别是透明和铝箔包裹的物体,可以可靠地测量。 - ...

激光测量系统
激光测量系统
Prism

Prism 是一種先進的鑽孔系統,大大提高了快速準確的殘餘應力測量能力。 與傳統的應變片鑽孔系統一樣,該儀器測量由鑽孔引起的零件表面的變化,並確定先前存在的殘餘應力。然而,避免了耗時的應變計應用,並分析了孔周圍的大塊區域,而不是僅從幾個區域得到的平均值。棱鏡使用電子散斑干涉術(ESPI)測量表面畸變。只需最少的樣品製備。 棱鏡系統利用從樣品表面漫反射的鐳射光學測量表面畸變。棱鏡軟體管理測量,收集資料,分析結果和資料品質。 主要優點 • ...

长度测量系统
长度测量系统
MSS series

... MSS系列测量系统的特点 点 易于安装 dot 节省空间 点 成本效益高且可靠 点 防尘 点 导轨范围。尺寸20~55 dot 单件长度:4m 最大 ...

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