{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子 显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。 与上一代CRYO ARM™ 300相比，具有更高的稳定性、效率和易用性。此外，该系统集多种功能于一体，可以处理从筛样到数据采集的整个过程，从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用户可以通过简单的操作获得高质量的图像，初学者也可轻松上手。 产品特点：高效、易于操作且随时提供高质量图像 ...
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... 元素面分析。 2. 新型屏蔽体 TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高 显微镜的稳定性。 3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™ 快速准确的像差校正 4. 稳定性提高 CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了 显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。 ...
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空间分辨率: 0.23, 0.19, 0.14, 0.16 nm
... 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子 显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品特点 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子 显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 ...
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倍率: 10 unit - 1,500,000 unit
空间分辨率: 0.14, 0.2 nm
... JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学 显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子 显微镜。 产品特点 从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光 显微镜做过标记的样品等的观察，首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况，再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构 ...
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... 约1分) ♦ 快速生成数据报告 JEOL独有的数据管理工具。 光学像、SEM像、EDS分析结果一并保存，报告书一键生成。也可以离线 解析※1。 ※1 需要离线分析软件 ※2 需要安装Microsoft®Office 4. 信号深 度显示 ♦ 点击下面按钮，开始播放 (约1分) ♦ 在操作导航GUI里增加了【信号深 度显示】功能，实时了解在测样品的分析深度（参考），有效用于元素分析中。 5. ...
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... 现在，同一试样架可同时用于光学 显微镜和扫描电子 显微镜。因此，通过使用专用软件管理平台信息，系统可以记录光学 显微镜观察到的位置，然后使用扫描电子 显微镜进一步放大相同区域，以更高的放大倍率和分辨率观察精细结构。光学 显微镜发现的观察目标可通过扫描电子 显微镜进行无缝观察，而无需重新寻找目标。现在，我们可以顺利、轻松地比较和验证光学 显微镜图像和扫描电子 显微镜图像。 功能特点 利用颜色进行数据采集和直观观察 通过添加光学 显微镜图像中的可见光颜色信息（这是 ...
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... 必须快速检查制备进度。JIB-PS500i 采用高倾斜平台和探测器方案，可实现从 FIB 铣削到扫描透射电子 显微镜 (STEM) 成像的无缝过渡。薄片加工和 STEM 成像之间的快速转换可实现高效的试样制备。 自动制备 JIB-PS500i 使用 STEMPLING2* 自动 TEM 样品制备系统自动制备样品。该自动系统使任何操作人员都能顺利制备 TEM 标本。 高分辨率和高同步扫描电子 显微镜成像 不要再犹豫不决，不要再错过铣削终点。高质量的扫描电镜图像为您提供帮助。 - ...
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倍率: 20 unit - 1,000,000 unit
空间分辨率: 4, 1.6, 1.2 nm
... 能对图像和分析数据进行三维观察。 7. 样品台联动功能 利用样品提取系统（Sample Pick-up System，选配项）和样品台联动功能，能简单地提取TEM样品。 8. 图像叠加（picture overlay ）系统 通过和附带光学 显微镜的样品提取系统组合，将光镜图像叠加在FIB图像上，能容易地定出FIB的加工位置。 ...
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