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HitachiXRF分析仪
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... 电镀厚度和成分结构。日立 分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营,确保高质量并避免昂贵的返工。 电力和电子组件的电镀 零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的 X-Strata系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。 IC 载板 半导体器件越来越小巧而复杂,需要 分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立 分析仪器的 分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性 分析,及重复性好的数据。 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
... EA8000A X射线 分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集 X射线透射成像和 X射线 荧光 分析于一体,可快速检测和识别损害锂离子电池(LiB)性能的金属异物。 快速 分析 创新性地协同使用 X射线透射成像与先进的 X射线 荧光光谱。先透视定位后精准扫描,使得EA8000A的 分析速度与单纯扫描的方法相比成倍加快。例如,仅需30分钟便可在200 ...
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... X-MET8000系列手持式 X射线 荧光(HHXRF) 分析仪具备进行快速合金牌号识别并对各种材料(固体和金属粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)进行精确化学 分析的性能。 X-MET手持式 XRF 分析仪实用且坚固,易于使用,可提供值得信任的结果。 我们提供一系列手持 XRF光谱仪型号,以满足不同应用的所有 分析需求和预算。我们的手持式 XRF光谱仪系列提供3年保修和新服务以及校准计划,可帮助贵司节省资金。 卓越性能 X-MET提供优秀的的轻元素 ...
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... XRF 分析( X射线 荧光)具有高度灵活和强大的能量分散 X射线 荧光(EDXRF)光谱仪 X-Supreme8000和Lab-X5000,用于各种应用的质量保证和过程控制要求,例如石油、木材处理、矿物、采矿、化妆品、水泥、纸张。 你可以信任的结果 一个集成的样品旋转器在测量过程中旋转样品,确保结果是可重复的,即使对于不均匀的样品,如粉末。 减少用户错误: 分析仪易于使用,简单的一键启动,直观的用户界面和大面积易于阅读的显示器。 快速质量控制 快速 分析意味着我们的 分析仪可用于多个生产阶段 ...
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... EA1000AIII和EA1400 XRF 分析仪专为RoHS(有害物质限制)设计,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。 操作方便 自动采样 灵活校准以适应新的RoHS标准 自动突出显示您正在 分析的内容以获得可浏览的结果 快速测量 大样品舱满足各种样品 视听测量指示器 添加镀层和元素 分析的选项 探测器:硅半导体检测器(无需液氮) 塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测量时间*:小于70 ...
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