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HELMUT FISCHERXRF光谱仪
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... 例如測試玩具中的鉛含量 • 根據珠寶業和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量 適合各種應用的合適設備 和XUL系列一樣,FISCHERSCOPE® X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而,XAN系列的一大優勢在於其高品質的半導體探測器。 X射線 螢光不僅可以測量鍍層的厚度,還可以分析合金(例如銅)的成份; XAN系列總共包括5款桌上型 XRF 光譜儀,涵蓋廣泛的應用範圍。XAN215具有經濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務,例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對於更複雜的合金或貴金屬應用 ...
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... • 非破壞、快速、精確的金測試 • 寬敞的測量室 • 緊湊而堅固的設計,適合長期使用 • 無需樣品備製。只需簡單地將物品放在測量室的測量視窗上 • >攝影機會為您顯示確切的測量位置 • 對於當鋪和黃金買家:配備矽PIN探測器且設計緊湊的GOLDSCOPE SD510; • 對於當鋪,黃金買家和小型實驗室:配備矽PIN檢測器的GOLDSCOPE SD515 • 對於測試實驗室,化驗室和精煉廠:配備矽漂移檢測器(SDD)的GOLDSCOPE SD520,在最低檢測閾值下有最高解析度 • ...
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... 分析、确定价值和检查真伪。 坚固耐用的 XRF 台式设备经过优化,可对珠宝、硬币和贵金属进行最强大、快速和无损的分析,也适用于较大部件的分析。 对黄金和贵金属进行 X 射线 荧光分析。 GOLDSCOPE SD® 600 是费舍尔最强大的 X 射线 荧光分析仪,用于黄金和珠宝检测以及贵金属分析。采用自上而下的测量方法,只需将样品放在手动操作的剪刀台上即可。激光指示器可辅助定位。因此,即使是几何形状复杂的样品也能轻松分析。 您的安全 贵金属合金的最佳测量性能 用途广泛。 是典当行、黄金交易、测试实验室和珠宝制造商的理想之选 ...
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... 由於其緊緻的設計, XRF儀器重量輕,只需要很少的空間 • 作為定位輔助的雷射指示器能幫助快速對準樣品 • 高解析度彩色攝像機簡化了測量區域的精確定位 • 經由使用介面友善的Fischer WinFTM®軟體操作、評估測量並清晰顯示測量值 FISCHERSCOPE® X- RAY XDAL® 600 是一款人性友善設計的 XRF桌上型儀器,用於鍍層厚度測量和材料分析。它的特點是緊緻,實用的設計,但仍包含了符合預期的精密 XRF測量組件。 ...
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... • 能量色散 X射線 螢光 光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的非破壞測量,採用ISO 3497和ASTM B 568標準; • XDLM的最小測量點: 0.1毫米; XDL的最小測量點:約 0.2毫米 • 鎢 X射線管或鎢微聚焦管(XDLM)作為 X射線源 • 經驗證可用於快速測量的比例接收器探測器 • 固定或可更改的準直器 • ...
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... • 能量色散 X射線 螢光 光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的非破壞測量,採用ISO 3497和ASTM B 568標準; • XDLM的最小測量點: 0.1毫米; XDL的最小測量點:約 0.2毫米 • 鎢 X射線管或鎢微聚焦管(XDLM)作為 X射線源 • 經驗證可用於快速測量的比例接收器探測器 • 固定或可更改的準直器 • ...
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... FISCHERSCOPE® X射線 XDAL®是 XDL系列中最好的 X射線 螢光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣,它是從上到下方向測量的,這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕鬆便捷,為了優化您的任務的測量條件,配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。 對測量任務的要求越高,探測器的類型就越重要!因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。 矽PIN二極體是一種中階檢測器,非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。 ...
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... XY 平台,定位精度 < 5 µm,適用於小型結構的自動測量 • DCM 方法可簡單快速地調整測量距離 • 完全受保護的儀器,根據現行輻射防護法規獲得型式認證 FISCHERSCOPE® X- RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中功能最強大的 X 射線 螢光儀器之一。該 XRF 光譜儀配備了一個強大的高分辨率矽漂移探測器 ...
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... • 功能強大的高級型號,用於最小結構和小於 0.1 µm 的最薄鍍層進行精確鍍層厚度測量和材質分析 • 具有鎢陽極的 Ultra 微聚焦管,可在 µ- XRF 的最小光斑點上實現更高性能; 鉬陽極可選。 • 4 個可切換的濾波器 • 極其強大的矽漂移探測器,面積為 20 mm² 或 50 mm²,用於薄膜的最高精度檢測 • 內部研發的多毛細管光學元件,用於最小測量點低至 10 μm FWHM,測量時間短,強度高 • 數位脈衝處理器 DPP+ 可提高計數率、縮短測量時間或提高測量結果的再現性 ...
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... FISCHERSCOPE® X- RAY XDV®-µ LD 是業界領先的 XRF 儀器用於連接器和電子應用。獨特的 12 mm 測量距離可以測量複雜形狀的測試零件,例如。高度為 140 mm 的組裝電路板。以極好的穩定性和高強度實現最小的測量點。大面積矽漂移檢測器、長距離高性能毛細管和標準整合的數字脈衝處理器 DPP+ 可實現精確、可重複的測量,具有高計數率和短測量時間。 特點 • 同類產品中可能的最大測量距離為 ...
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