HELMUT FISCHER工业用途测量系统

... 测量大型工件。 大型专用外壳，用于集成费舍尔 X 射线测量技术，测量大型工件的涂层厚度和材料分析。 用于超大型样品的 X 射线荧光分析。 FISCHERSCOPE® X-RAY 模块化箱体将大型箱体与 Fischer 成熟的 X 射线荧光测量技术相结合。您可以选择将测量技术安装在适合您需求的箱体内。可集成 ...

... 可在惡劣條件下進行可靠的塗層厚度測量 • FP這款帶探頭連接電纜線，便於測量難以觸及的地方 • 操作簡單，有直觀的導航功能表和2個顯示螢幕 • 3點支撐和導電率補償可得到重複性好的測量結果，即使是奇怪形狀的樣品 • 連續測量模式用於連續的表面取樣 • 統計功能，如平均值和標準差 • 可存儲多達1000個讀數 MP0R這款的附加功能 • ...

... 多种层基材料组合的专家 集成温度传感器 利用β射线测量涂层厚度。 BETASCOPE® 是用于升级 FISCHERSCOPE® MMS® PC2 基本仪器的模块。只要涂层和基体材料的原子序数相差足够大，它就能测定各种基体上有机和金属涂层的厚度。 易于使用。 设备操作简单，图形支持用户指南 市场上独一无二。 费舍尔是少数几家拥有 beta 源的测量仪器制造商之一 完美匹配。 设备特别适合您的测量和测试要求 自动化。 手动或半自动测量 用于特殊测量任务。 厚金涂层、钢板上的薄绝缘漆或金属上的油膜 ...

... 用於檢查衝壓件和熱風焊料整平帶或箔膜上的金屬鍍層。例如在測量過程中，用X射線螢光分析法對鍍鋅板進行掃描。測量結果既準確又可靠。快速移動測量頭的機械裝置使得可以在試件的不同位置進行測量。由於採用模組化系統結構，測量儀器可根據您的個性需求進行調整。如果需要，甚至可以安裝第二個測量頭來測量產品的正面和背面 在生產線上即時直接線上測量產生的資料比品質實驗室所能提供的更多、更快。這樣就可以確定鍍層厚度的趨勢並迅速採取修正措施。這樣對鍍層生產線的干預就不那麼嚴重了。優點：可以更精確地控制工藝，無需設置鍍層厚度的安全邊際 ...

... 12英寸晶圓 • 數位脈衝處理器 DPP+。 相同標準差下的測量時間較短* FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μSEMI專為半導體行業中的品質控制而設計，可全自動精確測量晶片上的微結構。 整個自動化裝置是封閉的，非常適合在無塵室使用。 FOUP和SMIF吊艙可以自動對接至測量系統。 XDV-μ SEMI內部的處理和測量完全無需人工干預。 ...

... 内嵌式全能设备：多功能测量系统。 用于自动涂层厚度测量和材料测试的通用测量系统 用于涂层厚度和电导率的模块化测量系统。 FISCHERSCOPE® MMS® Automation 采用模块化设计，具有最大的灵活性：它可以配备不同的模块和探头，以不同的测量方法可靠、精确地完成各种测量任务。自主研发的数字脉冲处理器 ...