涂层厚度测量系统 FISCHERSCOPE® 4000 Series

X 射线工业用途非破坏性

• 使用XRF進行快速可靠的測量 • 所有硬體和軟體元件均已開發用於在線式測量目的 • 易於操作和自動校正確保最小的設置時間 • 可適應不同的鍍層系統和頻寬（從幾毫米到一米）靈活使用 • 系統符合DIN ISO 3497和ASTM B 568標準 • 衝壓和實心帶材上的鍍金層，例如Au，Ag，Pd，Ni，Cu等 • 帶材上的電接點 • 熱風焊平整鋼及有色金屬盤繞線 • 光電行業的功能性鍍層 FISCHERSCOPE® X-RAY 4000設計用於帶狀電鍍過程中測量鍍層厚度，用於檢查衝壓件和熱風焊料整平帶或箔膜上的金屬鍍層。例如在測量過程中，用X射線螢光分析法對鍍鋅板進行掃描。測量結果既準確又可靠。快速移動測量頭的機械裝置使得可以在試件的不同位置進行測量。由於採用模組化系統結構，測量儀器可根據您的個性需求進行調整。如果需要，甚至可以安裝第二個測量頭來測量產品的正面和背面 在生產線上即時直接線上測量產生的資料比品質實驗室所能提供的更多、更快。這樣就可以確定鍍層厚度的趨勢並迅速採取修正措施。這樣對鍍層生產線的干預就不那麼嚴重了。優點：可以更精確地控制工藝，無需設置鍍層厚度的安全邊際，從而節省資金。