Cosmic自动测试设备

... 是面向功率半导体（Si、SiC、GaN）高吞吐量 测试的新一代 自动 测试 设备（ATE）。为无尘室集成设计，支持从 48 测试站（80 V / 250 A）并行扩展到 16 测试站（4 kV / 250 A），可执行直流和能量应力 测试套件，同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。

主要优势

• 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
• 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
• 占地极小，便于与探针台和处理设备集成

... 是一款紧凑型混合信号与数字 自动 测试 设备（ATE），用于在研发、实验室、试产前与量产后阶段对集成电路进行高效的表征与验证。模块化主框架支持最多 5 个插槽，可将电源、数字模块、AWG/数字化仪和测量单元组合为一体化且可扩展的平台。系统通过直观的图形化界面控制，并配备 Kronos 自动生成优化 测试程序。

主要优势

• 占地面积极小，在有限空间内实现高密度资源集成，适合实验室与试产环境。
• Kronos

... 030-00 — 功率特性 测试仪

概述
宽禁带（WBG）功率器件（如 SiC、GaN）因更高功率、更快开关速度及严格的规范要求（JESD 24-9、JESD 24-10、AQG-324），需要专门的表征方法。Quasar200 和 Pulsar600 为 Si、GaN、SiC 器件的直流与交流特性 测试提供配置化平台。Quasar200 面向 Si、GaN 及低功率 SiC；Pulsar600 面向超高电流 应用，适用于 ...

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Cosmic 的 Ovenless Burn‑In & HTOL 解决方案是一种机架式、节能的替代方案，用于替换传统的老化/烧机烘箱。该平台针对高密度器件 测试设计，结合 Burn‑In System (BIS) 与机架（每个机架 24 个内部槽位，每槽位最高可容纳 120 件器件），可在无需烘箱的情况下实现完全 自动化的大规模老化与 HTOL 循环，并为每个 DUT 提供独立温控。

选择理由

• 市场上唯一的无烘箱老化/烧机方案
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... 产品概述
HATINA GP 是一款面向智能功率 IC 与 SoC 的 自动 测试 设备（ATE）平台，专为高并行度的特性验证与量产 测试设计。系统采用模块化主框架，最多可配置 10 个插槽，集成模拟/电源、数字通道与高阶测量仪器，具备紧凑与能效优势。通过图形化界面进行控制，Kronos 软件支持 测试程序的 自动生成，加速开发与量产部署。

关键能力
HATINA ...

... MEMS 麦克风 测试

产品简介
Hatina 4S 面向高并行的 MEMS 与磁传感器生产 测试。技术亮点包括：专利无线圈磁场发生器（最高 400 Gauss）并支持 3D 旋转、麦克风 测试能力达 75 dB SNR 与 140 dB SPL、噪底低于 20 dB、幅度精度优于 0.1 dB、支持 −40 °C 至 +180 °C 的气候箱，以及可实现多站并行 测试的加速度计/陀螺仪模块。平台侧重于小体积、可配置性及通过高站点数降低单件 测试成本。
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... 支持 MOSFET 与功率器件特性化所需的 DC 与 AC 参数 测试