Cosmic电子工业测试设备

... 是面向功率半导体（Si、SiC、GaN）高吞吐量 测试的新一代自动 测试 设备（ATE）。为无尘室集成设计，支持从 48 测试站（80 V / 250 A）并行扩展到 16 测试站（4 kV / 250 A），可执行直流和能量应力 测试套件，同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。

主要优势

• 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
• 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
• 占地极小，便于与探针台和处理设备集成

... 是一款紧凑型混合信号与 数字自动 测试 设备（ATE），用于在研发、实验室、试产前与量产后阶段对集成电路进行高效的表征与验证。模块化主框架支持最多 5 个插槽，可将电源、 数字模块、AWG/ 数字化仪和测量单元组合为一体化且可扩展的平台。系统通过直观的图形化界面控制，并配备 Kronos 自动生成优化 测试程序。

主要优势

• 占地面积极小，在有限空间内实现高密度资源集成，适合实验室与试产环境。
• Kronos

... 030-00 — 功率特性 测试仪

概述
宽禁带（WBG）功率器件（如 SiC、GaN）因更高功率、更快开关速度及严格的规范要求（JESD 24-9、JESD 24-10、AQG-324），需要专门的表征方法。Quasar200 和 Pulsar600 为 Si、GaN、SiC 器件的直流与交流特性 测试提供配置化平台。Quasar200 面向 Si、GaN 及低功率 SiC；Pulsar600 面向超高电流应用，适用于 ...

... 它可实现完全自动化的大规模老化与 HTOL 循环，同时提供每个 DUT 的温度控制、提升温度一致性、减小厂房占用并降低冷却与能耗需求。该平台适用于洁净室并可直接集成至汽车、医疗、MEMS、消费 电子、航天与国防、 工业及功率半导体等生产线。

技术规格

• 测试点数量：1440（60‑site double Vcore 配置）
  1920（80‑site

... IC 与 SoC 的自动 测试 设备（ATE）平台，专为高并行度的特性验证与量产 测试设计。系统采用模块化主框架，最多可配置 10 个插槽，集成模拟/电源、 数字通道与高阶测量仪器，具备紧凑与能效优势。通过图形化界面进行控制，Kronos 软件支持 测试程序的自动生成，加速开发与量产部署。

关键能力
HATINA ...

... li>高并行吞吐量，适用于成本效益高的生命周期 测试

• 与标准晶圆探针台对接的紧凑型晶圆级 Burn-In 腔体
• 高并行吞吐：最多支持 1600 个测试点并行测试
• 单点电气能力：最高 1.2 kV，2 mA
• 支持功能性老化、HTGB