Cosmic测试设备

... 是面向功率半导体（Si、SiC、GaN）高吞吐量 测试的新一代自动 测试 设备（ATE）。为无尘室集成设计，支持从 48 测试站（80 V / 250 A）并行扩展到 16 测试站（4 kV / 250 A），可执行直流和能量应力 测试套件，同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。

主要优势

• 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
• 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
• 占地极小，便于与探针台和处理设备集成

... 个插槽以适配不同 测试需求。

• 模块化主框架架构（最多 5 个插槽），便于按需扩展仪器组合。
• 高集成度硬件在极小外形下提供丰富资源。
• Kronos 软件可将测试描述自动转为优化测试代码。
• 图形化界面为设计工程师与测试工程师所用，降低编程门槛。
• 适用于研发、实验室验证、试产前与最终封装测试场景。

... 030-00 — 功率特性 测试仪

概述
宽禁带（WBG）功率器件（如 SiC、GaN）因更高功率、更快开关速度及严格的规范要求（JESD 24-9、JESD 24-10、AQG-324），需要专门的表征方法。Quasar200 和 Pulsar600 为 Si、GaN、SiC 器件的直流与交流特性 测试提供配置化平台。Quasar200 面向 Si、GaN 及低功率 SiC；Pulsar600 面向超高电流应用，适用于 ...

... 该系统为机架式平台，由 Burn‑In System (BIS) 与带内部槽位的机架组成，支持高通量 测试。它可实现完全自动化的大规模老化与 HTOL 循环，同时提供每个 DUT 的温度控制、提升温度一致性、减小厂房占用并降低冷却与能耗需求。该平台适用于洁净室并可直接集成至汽车、医疗、MEMS、消费电子、航天与国防、工业及功率半导体等生产线。

技术规格

• 测试点数量：1440（60‑site

... 产品概述
HATINA GP 是一款面向智能功率 IC 与 SoC 的自动 测试 设备（ATE）平台，专为高并行度的特性验证与量产 测试设计。系统采用模块化主框架，最多可配置 10 个插槽，集成模拟/电源、数字通道与高阶测量仪器，具备紧凑与能效优势。通过图形化界面进行控制，Kronos 软件支持 测试程序的自动生成，加速开发与量产部署。

关键能力
HATINA ...

... MEMS 麦克风 测试

产品简介
Hatina 4S 面向高并行的 MEMS 与磁传感器生产 测试。技术亮点包括：专利无线圈磁场发生器（最高 400 Gauss）并支持 3D 旋转、麦克风 测试能力达 75 dB SNR 与 140 dB SPL、噪底低于 20 dB、幅度精度优于 0.1 dB、支持 −40 °C 至 +180 °C 的气候箱，以及可实现多站并行 测试的加速度计/陀螺仪模块。平台侧重于小体积、可配置性及通过高站点数降低单件 测试成本。
...

... 支持 MOSFET 与功率器件特性化所需的 DC 与 AC 参数 测试