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半导体测试设备
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使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
... 概述
VIP Ultra 由 Cosmic 推出,是面向功率半导体(Si、SiC、GaN)高吞吐量测试的新一代自动测试设备(ATE)。为无尘室集成设计,支持从 48 测试站(80 V / 250 A)并行扩展到 16 测试站(4 kV / 250 A),可执行直流和能量应力测试套件,同时保持紧凑占地并优化总体拥有成本。
主要优势
- 为功率器件测试流程提供最低的总体拥有成本
- 通过广泛的并行测试能力实现超高吞吐量
- 占地极小,便于与探针台和处理设备集成
产品概述
VIP ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... 产品概述
DMT EVO 是一款紧凑型混合信号与数字自动测试设备(ATE),用于在研发、实验室、试产前与量产后阶段对集成电路进行高效的表征与验证。模块化主框架支持最多 5 个插槽,可将电源、数字模块、AWG/数字化仪和测量单元组合为一体化且可扩展的平台。系统通过直观的图形化界面控制,并配备 Kronos 自动生成优化测试程序。
主要优势
- 占地面积极小,在有限空间内实现高密度资源集成,适合实验室与试产环境。
- Kronos
Cosmic Equipment S.p.A.
... version v5.51 or later | Linux controller (included) and ipWORKS version v5.51 or later
System — Certifications |
CE, SEMI S2, S8, ISO 9001 |
CE, SEMI S2, S8, ISO 9001
特性 / 规格(摘要)
- 支持器件:Si、GaN、SiC
Cosmic Equipment S.p.A.
... 关键信息
通过对 DUT 加热器的自主控制,实现能耗最小化
概述
Cosmic 的 Ovenless Burn‑In & HTOL 解决方案是一种机架式、节能的替代方案,用于替换传统的老化/烧机烘箱。该平台针对高密度器件测试设计,结合 Burn‑In System (BIS) 与机架(每个机架 24 个内部槽位,每槽位最高可容纳 120 件器件),可在无需烘箱的情况下实现完全自动化的大规模老化与 HTOL 循环,并为每个 DUT 提供独立温控。
选择理由
- 市场上唯一的无烘箱老化/烧机方案
- 相较传统烘箱显著降低能耗与冷却需求
- 在
Cosmic Equipment S.p.A.
... 产品概述
Hatina 4S 是 Cosmic 推出的紧凑型模块化 ATE 平台,专为 MEMS 器件与磁传感器的晶圆级(WS)和最终测试设计。平台支持对湿度、压力、温度传感器、麦克风、磁力计以及用于加速度计/陀螺仪的 twist-tilt 单元的刺激模块。系统结构可扩展,乒乓模式下最高可达 140 个测试点,体积小巧便于集成到 handler 与自动化产线。
关键优势
- 面向量产的模块化紧凑测试方案,适用于 MEMS 与磁传感器
- 高引脚数
Cosmic Equipment S.p.A.
... DX-3000 霍尔效应装置是一种全自动测试系统,集霍尔效应、磁阻和 IV 特性测试于一体。 该霍尔效应仪考虑到了一些用户经常忽略的问题,如仪器配置、电路布线(包括常温布线和低温布线)等,选用吉时利电气测量仪器。 磁场可根据用户要求采用电磁铁或液氦超导磁体,配备智能测量样品棒,再加上专用的全自动测试软件,让用户可以快速、方便地测量样品,获得准确可靠的数据。此外,还有多种低温选项,并可根据用户现有仪器和软件的特殊要求进行改造。DX3000 系列霍尔效应测量系统是研究材料电迁移特性的有力工具。 DX-3000 ...