自动相关仪

波长: 200 nm - 12,000 nm

... 用于紫外到红外（200纳米...>12微米）的光学器件和探测器技术 各种各样的专业应用都可以用不同的探测器类型和光学元件组来覆盖。光电倍增管（PMT）探测器灵敏度高，是低脉冲能量下脉冲测量的理想选择。另一方面，光电二极管探测器则非常适合测量具有高峰值功率的激光器。结合高效的光学器件，我们的探测器为在200纳米到12微米的宽波长范围内的测量铺平了道路。 从超短脉冲到较长脉冲 (5 fs ... 500 ps) 各种pulseCheck配置可以适应脉冲持续时间测量的个性化需求。使用pulseCheck ...

波长: 250 nm - 3,200 nm

... Mini是免调谐自相关测量、紧凑尺寸和高灵敏度的完美结合。 紧凑的设计 迷你型自相关仪的占地面积只有160 x 220 x 155毫米，是空间有限的工作环境的完美选择。当需要在其他地方使用时，只需将这个便携式装置放在所提供的轻质铝箱中，就可以轻松安全地运往下一个地点。 NIST可追溯校准 实验室和制造商经常面临着系统地建立一个不间断的校准链，以指定的基准。所有APE的自动跟踪仪型号都是按照NIST（美国国家标准与技术研究所）的测量可追溯性规范，按照可追溯的标准进行校准的。每一个pulseCheck都提供一份打印的和签名的校准证书。 迷你TPA的无调谐波长匹配功能 传统上，自相关器用于将一个光脉冲分成两个副本，并在非线性晶体中为二次谐波发生（SHG）而重新组合它们。APE ...

波长: 700 nm - 2,000 nm

... 卡普是检查光学显微镜系统中短激光脉冲持续时间的一个好方法。 NIST可追溯校准 实验室和制造商经常面临着系统地建立一个不间断的校准链，以指定的基准。所有APE自动跟踪仪型号都按照NIST（美国国家标准与技术研究所）测量可追溯性规范，按照可追溯标准进行校准。每一个pulseCheck都提供一份打印的和签名的校准证书。 显微镜下的主脉冲展宽 Carpe自动相关仪测量样品位置和显微镜输入处的脉冲持续时间。通过比较在这两个点获得的脉冲宽度，您可以计算出脉冲拓宽效应。这种效应是由显微镜光学器件的色散引起的，但也在很大程度上取决于进入的激光束的脉冲宽度。 样品位置的功率检测 样品位置的功率检测支持系统和定量的研究，这些研究探讨了激光功率如何影响样品或探针的荧光寿命。 优化显微镜成像 通过研究激光脉冲持续时间、功率和显微镜光学器件的色散的影响，你可以在相关点上微调和优化显微镜成像。这些测量也可以使用大NA（数值孔径）或浸入式镜头进行。 ...

波长: 700 nm - 1,100 nm

波长: 550 nm - 1,050 nm

... Femtometer™ 是基于迈克尔逊干涉仪的自相关仪、结合了高质量计算机化数据采集、处理和评估软件、专门为超短脉冲特性测量而开发。它由紧凑型干涉仪探头、光谱仪和控制界面组成。Femtometer 是目前唯一的计算机化脉冲特性测量工具、它使光振荡周期级的时间尺度成为可能、以测量周期量级脉冲。 超短脉冲特性测量 MHz 和 kHz 脉冲序列测量 功率监控 脉冲宽度评估 特征 高效 将时域和频域数据相结合、实现对激光脉冲的有效特性测量、评估和记录。Femtometer 具有新型紧凑设计、可以水平或垂直放置、只占极小空间。 超快又通用 Femtometer ...