自动化分光辐射计

波长: 380 nm - 1,040 nm

... Instrument Systems公司在CAS 140CT/D阵列分光辐射计和TOP 200望远镜光学探头在世界范围内取得成功的基础上，开发了DTS 140D NVIS。对于NVIS测量来说，正确测量可见光和近红外光谱范围之间极高的强度差异至关重要（分别为380至780nm和650至930nm--后者是NVG夜视镜的灵敏度范围）。CAS 140系列的具体修改包括进一步抑制杂散光和自动调整测量灵敏度以应对不同的信号强度。DTS 140D NVIS是需要长期可靠性和简单操作的生产和质量控制应用的理想选择。 由于阵列光谱仪技术的坚固性，DTS140 ...

... Instrument Systems公司设计的DTS 500定位系统是对其光谱仪系列的补充，创造了一个全自动的测量系统。它非常适用于确定面板图形、显示器和LED灯模块的视角特性和空间均匀性。使用DTS 500，您可以节省宝贵的时间，因为它消除了人工对准，保证了更高的重复性和更精确的结果。 DTS 500具有完整的5轴系统，当与SpecWin Pro软件完全集成时，该系统以最佳性能运行。以直角坐标或球面坐标的等高线查看测量结果的对比度和亮度分布。采集到的数据还可以导出为Excel中的表格格式。 特点 - ...

波长: 1.5 µm - 14 µm

... 高光谱MR系列光谱辐射仪由一个傅立叶变换红外迈克尔逊干涉仪组成，配置了双输出端口，用于同时覆盖长波红外和中波红外+西波红外光谱范围。这些坚固耐用的仪器是各种应用的理想解决方案。 军事红外目标定性 大气成分分析和气象探测 化学制剂特征测量。 工业排放监测。 MR系列光谱辐射仪以其卓越的性能赢得了良好的声誉，其系统优势如下。 广泛的光谱范围（1-15微米），涵盖了从低纬度到近红外的范围 高光谱分辨率，（1厘米-1）相当于9000多个通道的滤波辐射计 高辐...度和宽动态范围内的响应稳定性 高NESR灵敏度，可以在短时间内表征微弱信号 快速扫描，可以测量快速变化的目标特征的演变过程 扩展的FOV同质性，无论目标在FOV中处于什么位置，都能获得更好的精度 结构紧凑、便于携带，便于在野外作业和空中作业中部署 ...

波长: 805 nm - 982 nm

高分辨率 CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 光谱仪基于 Instrument Systems 的 CAS 120 系列阵列光谱仪。专门开发用于精准测量价格敏感型大批量生产中的窄带发射源（激光器/VCSEL）。 CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 能在较短的测量时间内提供极高的光谱分辨率，因此适用于极短光脉冲的高要求光谱测量。 和 Instrument Systems 的所有 CAS 型号一样，CAS 120-HR/B-HR ...

波长: 380 nm - 780 nm

对应超高对比度 SR系列的旗舰产品 产品概要 本产品量程极为宽广，最低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度； 最高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的领先产品， 同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过最新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能， 从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的 LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。 特点 ￭ ...

波长: 380 nm - 780 nm

对应超高对比度 SR系列的旗舰产品 产品概要 本产品量程极为宽广，最低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度； 最高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的领先产品， 同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过最新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能， 从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的 LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。 特点 ￭ ...

波长: 380 nm - 780 nm

适用干产线的超高速分光辐射亮度计！！ 产品概要 本产品搭载有测定条件自动化功能的FIX模式，仅需0.4秒即能完成对同类样品的测定， 非常适合于必须超高速测定的出厂检验之类的产线检查作业。 本产品适合于近年来需求不断扩大的LCD背光、新一代照明所使用的LED模组的产线、品质管理之用。 特点 ￭ 搭载LAN功能，从而实现生产线所必须的超高速测定（约0.4秒）。 ￭ 采用新型光学系统，减少了测定角内的灵敏度不均匀。 ￭ 超薄机身设计，适合搭载自动测量机台，在产线上使用。 ￭ ...

波长: 380 nm - 780 nm

超低亮度分光辐射度计第2款机型！ 产品概要 本产品是在获得好评的超低亮度分光辐射度计SR-UL1R的基础之上，实现了更高灵敏度、更高速化的机型， 是业界灵敏度最高，量程范围从0.0005cd/m²到300，000cd/m²的宽广量程超低亮度分光辐射度计。 搭载高速测定模式，测定0.005cd/m²亮度时，仅需约17秒时间，为业界最高水准的高速测定机型。 因此，不仅仅适用于设计研发，也同样适用于生产线的品质检验与管理。 特点 ￭ 高速测定超低亮度 ...

波长: 380 nm - 780 nm

本产品的灵敏度甚至达到 本公司基准仪器SR-3AR的100倍 产品概要 原有机型SR-UL1的升级版机型，其灵敏度在SR-UL1基础上再提高5倍，达到0.001 cd/㎡。 本产品在继承原SR-UL1优良性能的基础之上，增加了USB界面以及测定角电动切换等功能， 从而大大提高了产品的操作性。此外，使用2°测定角时，从0.001cd/m²的超低亮度，即能保证其测定精度。 特点 ￭ 超低亮度仪器，最低可测0.001 cd/m² 。 ￭ 量程宽广，量程为0.001 ...

波长: 380 nm - 780 nm

确立行业标准 业界常青产品 产品概要 随着显示器的性能与品质日益提升，对测试仪器测定标准的诉求也随之提高。本公司SR-3AR分光辐射度计正是适应行业 需求，堪称业界常青树的优良产品。 本产品是在长期获得客户好评的SR-3A/SR-3A-L1的基础之上加以改良，扩大了测定范围，性能更为稳定、操作性能得到 飞跃提升的优质产品。 点 ￭ 分光测光方式下的高速度、高精度绝对值测定。 ￭ 无需使用辅助镜，也能实现细微面、低亮度领域的高精度测定。 ￭ ...

波长: 600 nm - 1,030 nm

高精度测定超微弱近红外光 产品概要 近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。 之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。 TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上， 开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。 本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。 特点 ￭ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。 ￭ ...