- 计量设备、实验室仪器 >
- 计量和测试仪器 >
- 图像千分尺
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... MECLAB 是一款精确灵活的仪器,适用于测量圆柱形部件、轴橡胶滚子、车削或磨削部件、硬金属工具的直径。 NO-VAR 技术 - Aeroel 独家技术:通过对部件的热膨胀系数进行编程,不会因室温变化而产生测量漂移。 是离线检测和质量控制的理想选择。 MECLAB 是一款精确的激光千分尺,设计为离线使用,作为台式柔性量具,可检测各种不同形状和尺寸的工件,例如:小轴、车床或磨床加工的工件、橡胶辊、硬金属工具... - 它可以测量直径和椭圆度、跳动、边缘位置、零件间隙、锥度、节流和峰值、切削直径等。 - ...
测量容量: 0.1 mm - 30 mm
解析度: 0.01 µm
... QUADRALINE.XY激光控制系统设计用于矩形截面挤压或轧制产品二维尺寸的在线控制。由于其特殊的特点,Quadraline保证了可靠和准确的测量,而无需紧密对齐,并能承受产品振动和扭曲。 QUADRALINE激光系统专门设计用于在线监测具有矩形横截面的轧制或挤压产品的二维尺寸,如发夹用扁线、金属型材、塑料挤压型材、超导线材;漆包带等。 • 它测量的尺寸从0.1毫米到30毫米,使用交叉光束,双轴激光测量仪。 • 它检查产品公差,并在偏离标称尺寸超过预设限值时向操作员发出警告 ...
测量容量: 0.5 mm - 8 mm
解析度: 0.1 µm
... D-Lab 是一种高性能、易于使用的模具检测设备。可非常高效、快速地控制拉拔模具的直径和椭圆度。 结果可重复且客观,不受操作员技能的影响。 - 非接触式测量。 - 基于远心光学和 LED 准直照明器。 - 使用 2D CMOS 传感器和子像素边缘检测算法进行图像分析。 - 高度灵活:可测量不同的模具,而无需对系统进行重新调试。 - 结构坚固,适合在车间环境中使用。 - 一体化嵌入式 PC,使用意大利设计和制造的高可靠性主板。 - 所有测量数据均保存在内存中,可随时导出或打印。 易于使用 软件的设计非常方便用户使用,而且非常灵活。 快速公差检查 可将直径和椭圆度与预先设定的公称值和公差范围进行比较:彩色将立即显示零件的公差状态。 便于编程的零件库 在 ...
解析度: 0.05 µm - 100 µm
... LSM-9506 是一种台式非接触式测量系统,使用高速扫描激光束精确测量工件。它非常适合测量传统仪器难以测量或无法测量的工件,如弹性工件或可能受压变形的软工件。 LSM-9506 具有以下优点: - 其测量系统带有集成显示屏,便于 其测量系统具有集成显示屏,便于在工作台上进行检测。 - 还提供统计计算功能。 - 包括标准 RS-232C 串行端口和数据输出接口。 ...
测量容量: 300 mm
解析度: 0.001 mm
... 亚微米计算机测微计采用无线和 USB 数据输出,符合工业 4.0 标准,量程可达 300 毫米,分辨率为 0.1 微米,精度可达 1 微米。MICROTECH 亚微米测微计的摩擦顶针测量力为 6-9 N。 计算机化的 MICS 千分尺测量系统具有以下功能: - 带统计模式的内部存储器 - 彩色 GO/NoGo 指示(限值) - 峰值功能(最小/最大) - 计时器(读数到内存或数据传输) - 公式-计算指示器 Ax2+Bx+C - 分辨率选择(0.1 / 1/ 10 微米) - 毫米/英寸选择 - ...
MICROTECH
测量容量: 500 mm
解析度: 0.0001 mm
... 亚微米计算机盘式测微计采用无线和 USB 数据输出,符合工业 4.0 标准,量程可达 1000 毫米,分辨率为 0.1 微米。MICROTECH 亚微米盘式测微计带有摩擦顶针,测量力为 6-9 N。 MICROTECH 制造的圆盘测微计,圆盘直径 25 毫米,量程为:0-25 毫米;25-50 毫米;50-75 毫米;75-100 毫米;圆盘直径 35 毫米,量程为:0-25 毫米;25-50 毫米;50-75 毫米;75-100 毫米;100-125 毫米;125-150 毫米;150-175 ...
MICROTECH
测量容量: 100 mm
解析度: 0.0001 mm
... MICROTECH 亚微米小顶针计算机测微计,采用无线和 USB 数据传输,符合工业 4.0 标准 MICROTECH 亚微米测微计的摩擦顶针测量力为 6-9 N,测量范围达 100 毫米,分辨率为 0.1 微米。小顶针直径为 2 毫米。 计算机化的 MICS 千分尺测量系统具有以下功能: -带统计模式的内部存储器 -彩色 "去/不去 "指示(限值) -峰值功能(最小/最大) -计时器(读数到存储器或数据传输) -公式-计算指示器 Ax2+Bx+C -分辨率选择(0.1 / 1/ 10 微米) -毫米/英寸选择 -温度补偿 -数学误差补偿 -无线数据传输至 ...
MICROTECH
测量容量: 400 mm
解析度: 0.0001 mm
... 亚微米齿轮计算机测微仪 MICROTECH,采用无线和 USB 数据传输,符合工业 4.0 标准 MICROTECH 亚微米球砧式测微计用于测量齿轮销轴直径,配有摩擦顶针和不旋转主轴。 球砧可选且可互换。球径为 1-6 毫米或可设定。 千分尺的计算机化 MICS 测量系统具有以下功能: -带统计模式的内部存储器 -彩色 "去/不去 "指示(限值) -峰值功能(最小/最大) -计时器(读数到内存或数据传输) -公式-计算指示器 Ax2+Bx+C -分辨率选择(0.1 / 1/ 10 微米) -毫米/英寸选择 -温度补偿 -数学误差补偿 -无线数据传输至 ...
MICROTECH
测量容量: 6 mm - 300 mm
... VEA光学测微仪有270多种型号,是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上,而不会有精度损失的风险,因为它们有一个简化的校准系统,使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商,通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量,其精度与计量实验室中的测量精度相同(20°±1°)。 • ...