{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... 两种接口，因此更便于相机设计，有利于灵活选定零部件。 该款高性能 SWIR图像传感器可满足产业领域中的检查、识别、测量等复杂多样的需求，有助于生产效率的提升。 凭借业界突破性*1的约532万像素分辨率实现高精细的 SWIR成像 作为 SWIR图像传感器，IMX992的分辨率约为532万像素，IMX993约为321万像素，两者的分辨率皆已达到业内突破性*1的水平。索尼升级了自主研发的SenSWIR技术，并新开发了单位像素尺寸3.45μm的微细像素，从而实现了这一高分辨率。500万像素级别的分辨率 ...
Sony Semiconductors/索尼
... 从可见光到短波长红外线都能捕捉的高分辨率 SWIR图像传感器 可用于复杂的异物检查、材料拣选以及透过烟雾成像 SWIR图像传感器是一种能捕捉短波长红外线（ SWIR/Short-Wavelength InfraRed）的图像传感器。利用 SWIR波段的光，可透过半导体的硅晶片确认位置校准标记和内部缺陷，也能透过不透明的树脂素材，拍摄包装中的内容物。由于不同物质对不同波长的光具有不同的吸收特性，因此 SWIR图像传感器可用于拣选外表相似的素材、检查异物、检测果蔬上难以看见的损伤和瘪痕等。凭借 SWIR不易受空气中微粒子干扰的特点 ...
Sony Semiconductors/索尼
... 概述 短波红外（
SWIR）线阵检测器 RL01K1 / RL5122-H1S00 采用先进的 InGaAs 传感器技术，提供两种阵列规格：1024×1（像素间距 12.5μm）和 512×2（像素间距 25μm）。谱响应范围为 0.9 μm 至 1.7 μm，采用金属-陶瓷一体化密封封装并内置单级 TEC，适用于高速、低噪声的工业成像与光谱检测场景。
主要特性
- 像素间距：12.5μm / 25μm
- 线阵尺寸：1024×1