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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4, 7, 3 nm
重量: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 扫描电镜 -电子光学 分辨率:3 nm@ 30 kV, SE/7 nm@ 3 kV, SE/4 nm@ 30 kV, BSE/3 nm@ 30 kV, SE, 30 Pa 加速电压:0.2 kV ~ 30 kV 放大倍率(宝丽来):1 x ~ 300,000 x -样品室 低真空:5 ~ 1000 Pa(可选) 摄像头:光学导航/样品室监控 平台类型:5 轴真空兼容电动平台 XY 范围:125 毫米 Z 范围:50 毫米 T 范围:- ...
CIQTEK Co., Ltd.

倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4.5, 3.9 nm
... CIQTEK SEM2100 扫描电镜规格 电子光学 分辨率: 3.9 nm @ 20 kV,SE 4.5 nm @ 20 kV,BSE 加速电压:0.5 kV ~ 30 kV 放大倍率(宝丽来)1 x ~ 300,000 x 试样室 照相机光学导航 腔室监控 平台类型:3 轴,XYZ 轴真空兼容电动式 XY 范围: 125 毫米125 毫米 Z 范围:50 毫米50 毫米 SEM 检测器 标准:埃弗哈特-桑利探测器 ...
CIQTEK Co., Ltd.

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.6 nm - 1 nm
重量: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X FESEM 显微镜规格 电子光学 分辨率: 0.6 nm @ 15 kV, SE 1.0 nm @ 1 kV, SE 加速电压:0.02 千伏 ~30 千伏 放大倍数1 ~ 2,500,000 x 电子枪类型:肖特基场发射电子枪 试样室 摄像头双摄像头(光学导航 + 样品室监控器) 平台类型5 轴机械偏心试样平台 平台范围X=110 毫米,Y=110 毫米,Z=65 毫米 ...
CIQTEK Co., Ltd.

倍率: 1 unit - 300,000 unit
空间分辨率: 2.5 nm - 5 nm
长度: 926 mm
... CIQTEK SEM3300 扫描电镜规格 *电子光学 分辨率:2.5 nm @ 15 kV, SE 4 纳米 @ 3 千伏,SE 5 nm @ 1 kV, SE 加速电压:0.1 kV ~ 30 kV 放大倍率(宝丽来)1 x ~ 300,000 x *试样室 照相机光学导航 腔室监控 平台类型:5 轴真空兼容电动式 XY 范围125 毫米 Z 范围50 毫米 T ...
CIQTEK Co., Ltd.

... TESCAN VEGA的第四代扫描电子显微镜(SEM)与钨丝电子源相结合,将SEM成像和实时元素成分分析结合在TESCAN的Essence™软件的单一窗口中。这种组合大大简化了样品的形态学和元素数据的采集,使VEGA SEM成为质量控制、失效分析和研究实验室的常规材料检测的高效分析解决方案。 - 分析平台采用完全集成的TESCAN Essence™ EDS,在一个Essence™软件窗口中有效地将SEM成像和元素成分分析结合在一起。 - 由于采用了TESCAN独特的无孔径光学设计和飞行光束追踪技术,可立即获得最佳的成像和分析条件。 - ...
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