扫描系统

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机械手扫描系统
机械手扫描系统

... -自动扫描运动生成 -自动高眼校准和定位 -多个扫描的自动拼接 -无缝、直观的扫描到路径工作流程 1./ 线性扫描 使用龙门式或机器人式扫描仪沿线性方向扫描零件。 2./ 多角度扫描 对于几何形状复杂的工件,Augmentus 可从不同角度自动拼接多次扫描。 3./ 旋转扫描 使用转台或定位器,Augmentus 可在工件旋转时对其进行无缝扫描。 ...

2D扫描系统
2D扫描系统
PROMEX BASIC

长度: 260, 380 mm
宽度: 190 mm

... PROMEX BASIC 是一款扫描仪系统,可处理前光或背光测量程序,具体取决于型材样品。 它可用于所有可平铺在扫描仪的玻璃板上,且不超过 20 mm 的型材部分。 PROMEX BASIC 的特点是操作简单,并通过正常的外部 PC 和监视器操作。 ...

激光扫描系统
激光扫描系统
IQ1000

... IQ1000是一台新的扫描SQUID¹显微镜,用于研究超导电路中可能对电路运行产生负面影响的被困磁通(磁涡流)的动态变化。该显微镜使超导设备设计团队能够在受控磁场中对冷却到超导转变温度的设备中的磁涡进行成像。IQ1000具有快速扫描速度和流程自动化,是同类产品中第一个实现无人值守和高通量表征的商业产品。器件设计者现在可以消除在设计弹性超导电路时的猜测,并通过定位和捕获有害的磁涡来提高器件性能,从而大大减少开发时间。 IQ1000通过在样品表面扫描SQUID磁通量传感器,以亚微米的分辨率生成磁通量和材料磁感应强度的图像来完成这一特性分析。该显微镜还能利用XYZ矢量磁场研究电路中的涡流动态,精确控制样品温度,并利用传感器场线圈直接操纵涡流。 ...

多轴扫描系统
多轴扫描系统
X7000 robotiX

... North Star 成像的新型 RobotiX X 射线扫描系统通过简单的编程界面轻松实现零件自动装载和卸载,让最终用户能够轻松创建新的机器人运动程序。 系统规格 系统优势 自动零件装载/卸载 缩短循环时间,提高生产率, 简单的用户界面带安全区子例程 与 EFX-DR & CT 无缝集成升级 符合 OSHA 标准的现有系统安全区域扫描仪 系统配置 5 轴或 6 轴 范围取决于应用 容量(取决于应用)可 重复性高达 ± 0.00079 英寸(± 0.02 毫米)的 精确选择可在 X25、X50、X3000、X5000 ...

3D扫描系统
3D扫描系统
ezScan 2017

... EzScan 2017 有一个简化的界面,通过提供快速和易于理解的扫描过程来赋予用户权力。 扫描处理从未如此简单,因为每个功能都有清晰的逻辑布局,可减少错误,同时提高生产力。 直观的用户界面与增强的自动扫描功能相结合,任何人都可以毫无困难地操作扫描仪。 ...

2D扫描系统
2D扫描系统

... 集成式激光打标机和扫描仪将 IPG 脉冲光纤激光器与二维扫描仪结合在一起,为集成商和原始设备制造商提供了更简便的安装方式。强大的控制器和扫描软件可满足各种集成要求。 这些子系统由世界上更好的纳秒和皮秒光纤激光器提供动力,是集紧凑型和高性价比于一体的完整激光打标解决方案。 ...

共振型扫描系统
共振型扫描系统
RESSCAN

... 萨特共振扫描盒 (RESSCAN) 是一种通用共振扫描盒,使用行业标准的剑桥技术 CRS 8 kHz 共振扫描仪进行快速 X 轴扫描,并使用第二个剑桥振镜扫描仪 (6215 5 mm) 进行 Y 轴扫描。扫描盒噪音极低,软件包允许以高达每秒 30 帧的速度进行全帧扫描(实际值取决于软件)。与其他设计用于专有硬件和/或软件的共振系统不同,萨特共振扫描盒及其与外部世界的连接是有意通用的。 扫描盒目前有两个版本: RESSCAN-MOM - 适合 MOM® 中标准扫描仪位置的版本,可与新 MOM 一起购买或用于现场转换现有 ...

皮肤皮革扫描系统
皮肤皮革扫描系统
VISIO F

... 采集和排版优化 Visio F 是一种扫描、评估和排序系统,适用于平放在工作台上的生皮。它配备了固定工作台和高分辨率摄像头,可对皮料上的缺陷进行扫描和数字标记。 工具、机械、应用 扫描、缺陷检测、优化的自动排版和存储:完美切割所需的一切,重点是减少材料浪费。 可靠性和准确性 Visio F 还允许使用 Opera 软件对图案进行自动或半自动排版。通过对质量区域和材料的管理和控制过程,可以优化整个加工过程的性能并提高生产率。 ...

测量扫描系统
测量扫描系统
SSCANL

阅读距离: 0 m - 8 m

... 用于安装 Weightex 传感器的不同尺寸的穿越门 测量头可配备多种传感器,用于不同参数的当代检测。边缘传感器可根据磁带宽度调整扫描区域。扫描速度从 20 毫米/秒到 300 毫米/秒不等(取决于测量类型和精度要求),同时通过电机扭矩控制确保安全。提供用于离线测量的停放区 ...

切割机扫描系统
切割机扫描系统
Mark cut

... 使用 Balacchi 扫描系统进行扫描和采集 利用先进的扫描技术,在整个切割过程中实现最高精度。 机载照相机 配备 LED 照明的紧凑型摄像头,即使在弱光条件下也能工作。它能准确检测印刷材料在裁床上的位置,识别套准标记。 上方摄像头 安装在裁床中央上方的特殊摄像头。它能自动识别套准标记,最大限度地减少人工干预并提高性能。 投影仪 一种光学系统,可将待裁片的形状投射到工作面上。它清晰、快速、可靠,可获得矢量格式的待切割设计。 ...

3D扫描系统
3D扫描系统
TK50

... Centurion TK50是Thermoteknix公司的行业标准回转窑窑壳线扫描系统。Centurion TK50与WinCem Graphic窑炉可视化软件配合使用,代表了多年来回转窑窑壳扫描信息最令人激动的发展。 Centurion TK50的设计是为了在宽广的环境温度范围内可靠而准确地运行,其高性能的热电冷却碲化镉(MCT)单元素检测器具有最佳的灵敏度、准确性和坚固性。在Centurion TK50中,先进的控制电路不断监测和优化探测器的性能。这确保了在不断变化的环境操作条件下的最大动态范围和低NETD。两个内部校准的黑体温度基准在每次旋转时都会被扫描,以确保最高的系统温度。 -无与伦比的高清晰度显示 -3D涂层/砖块厚度显示 -动态多区域趋势显示 -最坏情况温度跟踪 -热损失/热力学软件包 ...

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Clean Combustion
2D扫描系统
2D扫描系统
PS3000

阅读距离: 1 m

... 主要特点 - 即插即用。安装简单 - 完全自动跟踪 - 摄像机瞄准的手动选项 - 允许连续可靠的温度测量 - 追踪单个轮廓--多腔模具的温度 - 可调节的扫描范围达±25º - 可调节的扫描步长从0.1º到5º - 最小的工作距离为1米 - 最大的工作距离与目标尺寸有关 - 扫描模式的选择。 1.最热点 2.平滑点 3.程序点(钟摆模式) 4.连续扫描(钟摆模式) - 可调节的扫描时间 ...

2D扫描系统
2D扫描系统
DIGIPEN

... GUNNAR 为数字切割行业提供不断增加的外围硬件解决方案,以满足许多不同行业的特殊需求。 GUNNAR DigiPen 套装是一种快速、简单易用的数字化解决方案,可根据现有模板或现有 2D 产品生成数字文件(CAD 数据)。它是光学手持扫描仪 GUNNAR DigiPen 和标记编辑软件 GUNNAR idPRECAM 的组合软件包。生成数字文件从未如此简单快捷。 ...

多轴扫描系统
多轴扫描系统

... Inductotherm 集团公司在世界各地生产 Inductoscan® 品牌感应扫描系统,用于扫描、旋转台加热和大型工件淬火。模块化加热系统设计独特,可将各种电源、控制装置和组件集成在一个通用底座上,以更好地满足当前的生产需求。它可以进行定制,以执行各种热处理应用,如扫描、单枪、升降/旋转、取放、旋转分度和线性传输。 ...

3D扫描系统
3D扫描系统
powerSCAN

长度: 533 mm
宽度: 326 mm

... 最高功率的扫描 powerSCAN II扫描系统能在几毫秒内将多千瓦的激光束准确地定位到您的工件上。 50毫米(很快将达到70毫米)的孔径使小光斑尺寸和高功率密度成为可能--即使在大的工作距离和大的图像区域。 各个部件的集成冷却确保了可靠的操作和非常好的长期稳定性,即使在具有挑战性的环境条件下。 这个紧凑的系统包括一个全数字控制,从而提供了iDRIVE技术的所有优势:高灵活性、高动态性、实际位置和其他状态的实时可读性等等。 通过一个集成的第三轴,激光束可以在工作容积内动态聚焦。这样就可以对工件进行快速和精确的三维加工。通过一个额外的步进电机,图像区域的大小可以根据需要在很大范围内调整。 可用的联锁装置使该系统可以很容易地集成到安全电路中。 ...

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SCANLAB GmbH
光学扫描系统
光学扫描系统
Digital Dropwire

... 数字式停经架是对机械式停经架的一次革命,是高分辨率的在线光学停经架系统,可以在包覆、重振、织造前的织机上感应到纱线的断裂和缺陷*,特别是牛仔纱或任何种类的纱线。 数字式停经架检测到断纱和缺陷后,可以立即向织机发出停止指令或报告所有问题。 技术 - 高速扫描传感器 传感器分辨率 - 600 dpi 感应速度 - 6000 lps 故障检测 - 纱线断裂、纱线缺陷 通信--Ethemet或Wi-Fi 输出 - 2针。NPN,集电极开路,最大50mA 记录 - 疵点时间,疵点位置。[X, Y].机器编号,缺陷尺寸。 缺陷图片,缺陷名称等。(在缺陷检测模式下。) ...

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