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... 设计用于稳固机载分子污染（AMC）监控程序，AirSentry II移动AMC检测系统是第一个真正的移动系统，用于监测洁净室中的空气分子污染。移动性在战略性监测机载分子污染过程中起着重要的作用，可以快速定位、量化和消除污染源。移动装置内嵌触屏电脑，在每个监测位置即时反馈气悬浮分子污染水平。Facility Net软件可以在监测特定环境时，实时地存储数据同时图示出来。配备车载压缩器、空气干燥器、化学滤器以及真空泵来确保分析仪在移动后，可以无需等待长时间的预热就可以马上采样。 高灵敏度的AirSentry ...
... AirSentry® II 多点式监测系统是最新型的气悬浮分子污染监测器，在洁净室内利用灵敏的离子迁移光谱仪从多个位置去监测和显示气悬浮分子污染。 系统采用 16/30 多点采样系统，配备带有安全软件和通信的机载计算机。 在现代洁净室制造领域，工艺装备遍布大的洁净室区域和多层楼房区域。空气处理器会再循环洁净室里的大部分空气，这样容易传播分子污染，对原本不会接触到污染源的工艺步骤产生负面影响。 AirSentry II气悬浮分子污染监测系统提供高性价比的中央监测站，可以快速监测污染及通过设备广泛传播的采样点。这是战略性气悬浮分子污染监测计划的一个关键部分。 多达30个采样位置的监测器 AirSentry® ...
... AirSentry® II 电子迁移率光谱仪用于检测空气分子级污染（AMC)，在监测到含酸类、胺类、氨以及氯化物气体时提醒用户。它具有ppt级的灵敏度，传感器反应迅速、监测选择性广、性能稳定。Air Sentry II传感器配有中央控制软件，可以轻松地采集分析数据。Air Sentry II传感器提供连续可追溯的数据，来快速回应污染源和污染事件。 酸类和基底（胺类、氨以及氯化物）的高灵敏度检测 使用点、多点式、移动式监测应用的通用产品配置 体积小，可放在任何位置 以太网，RS-232, ...
... PASEF® 模式）。 li>< li>占空比：Dual‑TIMS 可实现接近 100%。 li>< li>CCS：支持碰撞截面测量。 li>< li>离子容量：Dual‑TIMS 约 3× 提升。 li>< li>离子光学：优化的 ...
... 为世界领先的地质年代学研究提供的专用离子探针 为了满足地质年代学家日益增加的需求，CAMECA推出了KLEORA，这款大尺寸几何结构SIMS仪器专门针对先进的U-Th-Pb矿物定年进行了全面优化。 KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成，在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵敏度。 KLEORA：先进的U-Pb定年解决方案 KLEORA得益于IMS 1300-HR³的突破性改良，将高再现性与高空间分辨率和高质量分辨率独一无二地结合在一起。KLEORA涵盖了U-Pb地质年代学应用的全部范围，从精确的锆石年龄测定到其他富铀矿物（如金红石或斜锆石）定年，可充分满足地质年代学家的需求。。 ...
CAMECA
... 用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMS AKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550（四极杆 SIMS）系列外，AKONIS作为其 补充，可实现仪器设置和采集例程的完全自动化，从而可在分析灵敏度不受影响的情况下实现快速的厂内分析。AKONIS ...
CAMECA
... 用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMS AKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。 ...
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