光学探测系统

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CCD探测系统
CCD探测系统
Newton 940

... 牛顿 940 分谱 CCD 相机系列采用了 1024 x 255 或 2048 x 512 阵列,其尺寸为 26 微米或 13.5 微米像素,热电冷却降至-100° C,从而产生微不足道的暗电流,并为光谱应用提供了无与伦比的性能。 多兆赫读出 T E 冷却至-100° C UltraVac™ 低至 13.5 x 13.5 微米像素大小的 裁剪模式操作 ...

光学探测系统
光学探测系统
PR series

... HORIBA 提供广泛应用于半导体光刻工艺的系统。 这些系统可以检测网格/掩模上的颗粒,具有高可靠性和长期稳定性。 该系统可以精确地测量每个玻璃/颗粒表面上的颗粒,并且具有高通量,有助于提高任何半导体制造设施的产量。 HORIBA 还提供了一个粒子去除器,可与检测系统结合使用,以自动去除检测到的任何粒子。 ...

CCD探测系统
CCD探测系统

锂电行业对齐度检测系统 产品简介:系统采用CCD成像原理,对极片涂布后的涂膜宽度、留白(极耳宽度)及上涂层与下涂层的对齐度进行100%在线全检,并且可通过纠偏系统或伺服系统系统实现闭环控制,从而优化极片涂布的一致性。 1)CCD检测点推荐在辊筒表面检测,避免材料抖动及设备张力不稳定造成的测量误差。 2)CCD和光源固定必须稳定,无抖动; 3)检测范围:根据客户需求定制; 4)检测精度:≤±0.1mm; 5)系统适用于阴极(正极片)和阳极(负极片)膜片测量,其中阳极无AT9涂布区; 1)在线检测被测材料宽度尺寸及对齐度尺寸; 2)数据分析并存储,方便数据追溯; 3)声光报警规则设置、 ...

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KADO Intelligent Technology (Shanghai) Company
CCD探测系统
CCD探测系统

产品简介:宽度检测系统采用CCD视觉原理对生产线上的材料宽度进行在线检测,并在分切、制片等生产线可与纠偏系统联动,实现生产材料的宽度闭环控制。 根据不同的被测物料宽度及检测精度,选配一个或多个CCD进行宽度测量,线阵CCD摄像机作为传感器,同时测量物料的两个边缘位置,得到数字信号。通过计算对边缘信号进行处理得到物料宽度并反给用户; H:根据检测幅宽和精度设计,并增加物料底面至光源表面距离,H1物料特别宽的情况下可以采用两个相机进行检测。 W:根据最大物料宽度AB设计,并预留J的检测余量。两个相机之间的盲区W为固定值 如图布所示,卷材分切过程中,物料会因设备张力、安装精度、材料形变量大等因素而导致物料进入分切时物料会左右偏摆,最终引起物料分切宽度存在误差,降低了材料的分切尺寸稳定性。 KADO根据使用需求设计可靠的纠偏系统来实时控制物料进入分切工位时的入料位置,分切后运用测宽系统测量分 切尺寸,并将分切偏差反馈给纠偏系统对物料入料位置实时修正。

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气体探测系统
气体探测系统

井下光纤电视测井系统 产品特点 结构合理 性能稳定 维护方便 高效节能 产品详情 整套系统由井下仪器、测井光缆、数控系统及辅助配套装备构成,可满足4000m井深,150℃井温,内通径62mm以上井筒检测要求。系统可实时显示、记录井下动态视频图像,准确检测套管漏失、脱扣、错断、变形、结垢、腐蚀及井筒鱼顶、鱼腔形状等,对于制定单井措施意义重大,本系统配连续油管系统可用于水平井测试。 技术参数: 标准型井下仪器:长度1904mm,直径Ф45mm,耐压50MPa,耐温105℃。 高温型井下仪器:长度1969mm,直径Ф45mm,耐压70MPa,耐温150℃。 测井光缆:长度:5000m;铠装光电复合结构。 数控系统:由数字采集处理电路、专业监视器、工控机、字幕机、录像机、专业视频打印机和测控软件等构成。

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