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... 点式探头用于发现材料表面上和表面以下的缺陷。这类探头具有宽泛的频率范围，通常直径较大，适用于频率较低的检测或扫查较大的区域。由于点式探头的线圈直径较大，可探测的缺陷尺寸也会增加，通常等于探头直径的一半。 可拆卸式表面探头有多种直径和频率范围。它们具有屏蔽功能，可提供很大的灵敏度，用于裂纹探测、厚度测量、电导率测量和涂层厚度测量。这些探头包括一个Fischer/LEMO三轴或7针LEMO Powerlink快松接头。 腐蚀探头（SPO-532x系列）经过特殊的平衡处理可用于探测铝结构中的材料损耗，并配置有反射绝对线圈。 ...
... 滑行探头专用于检测成排的紧固件。它们在反射模式下（驱动/拾波线圈）工作，用于发现表面和近表面缺陷。 滑动式探头有两种不同的类型： 可调类型：包含垫片，可对探头进行调节，以适应不同的紧固件尺寸，包括Microdot连接器 固定类型：可探测到的缺陷与可调类型探头探测到的相同，但由于线圈尺寸和频率范围固定，通常专用于某种程序 固定类型探头通常配有Fischer/LEMO Triax连接器，并且其底面有凹陷，便于探头在凸起的紧固件头上滑动。 固定类型探头通常配有Fischer/LEMO ...
... 为了获得漫射或镜面材料的光谱信息，使用了反射探头。来自光源的光通过六根照明光纤被送到样品上，反射由位于反射探头顶端中心的第七根光纤测量。第7根光纤与光谱仪相连，被配置到感兴趣的适当波长范围。可以增加更多的照明光纤以从光源中获得更多的能量，从而提高反射信号水平。 对于90°角下的测量，开发了FCR-90-选项。它是一个特殊的适配器，镜子定位在45°，可以很容易地安装在Avantes标准反射探头的顶端。 FCR-COL是一个可调节的UV/VIS/NIR准直和聚焦透镜，可以在更远的距离上聚焦测量点。 ...
Avantes/爱万提斯
... 为了纠正光源的波动和漂移，需要定期进行参考。为了方便起见，Avantes提供了这一系列具有自我参照功能的反射探头。 来自光源的光线被捆绑成12根纤维，这些纤维被分成两个6根纤维束。其中一束被带到探头一端进行样品测量，另一束6根被引向探头内置的白色反射瓦，提供光源参考。这条参考腿连接到一个专门用于光源参考的从属光谱仪通道，或者可以通过光纤路由到一个单一的通道（关于这种特殊配置，请联系销售工程师）。在测量端，探针端有第七根光纤，它将光反射到主光谱仪通道上。 ...
Avantes/爱万提斯
... 对于某些测量，需要一个可以与两个光谱仪和一个光源耦合的反射探头。一个很好的例子是在紫外/可见光和近红外范围内进行反射测量。对于这些情况，Avantes提供了我们的多腿反射探头。 来自光源的光被耦合到一个纤维束中，该纤维束由17根照明纤维组成，将光传输到探头的末端。反射光被均匀地反射到两根读数光纤中，每根光纤都连接到光谱仪上。对于90°角下的测量，FCR-90-选项已经被开发出来。它是一个带有45°安装的镜子的适配器，可以很容易地安装到这些反射探头的顶端。为了从更高的距离准确地聚焦一个小的测量点，可以使用FCR-COL可调节的US/VIS/NIR准直/聚焦透镜，可以安装在这些探头的顶端。 ...
Avantes/爱万提斯
... 用于与样品接触或短焦距的反射测量，适用于工艺应用。 适用于固体、粉末、糊状物和污泥。 可能的应用： 提供直径 12、20 和 25 mm 的非侵入性测定残留水分 的定性和定量分析食品成分 的异构系统的反应监测 非常坚固的设计，用于长期和可靠的过程。 特点： 卫生设计 多种光纤 ...
... CS655 是多参数智能传感器，使用革新的技术监测土壤体积含水量、容积电导率和土壤温度。它的信号输出方式为SDI-12，可用于大多数的 Campbell Scientific 数据采集器。探针长度比CS650更短，适合使用在基岩类土壤中。 备注：如果用于ET107气象站，请选择CS655-LC。 优势与特点 - 更大的采集体积，减少了误差 - 对土壤质地和电导率的影响进行测量修正 - 估算很多种矿质土类型土壤中的含水量 - 多功能的传感器 — 可测量介电常数、容积电导率（EC）和土壤温度 ...
... 正常探头 主要用于测试与测试表面（如钢板）平行或略微倾斜的缺陷 可更换膜普通探头 主要用于检测容器缺陷以及与检测表面平行的缺陷，适用于检测表面粗糙和略微弯曲的物体。 可更换延迟线普通探头 主要用于检测平行于/靠近被检测物体表面的缺陷，适用于有锋利边缘的被检测物体。 如果延迟线由高温材料制成，还可检测高温物体。 角度探头（横波） 主要用于检测与检测表面垂直或明显倾斜的缺陷（如焊接线检测）。 角度探头（纵波） 主要用于测试垂直于或明显倾斜于测试表面的缺陷（如焊接线测试）。 测厚仪探头 主要用于测量工件厚度。 双元件角度探头 主要用于测试倾斜于测试表面或垂直于测试表面的缺陷。 双元件法线探头 主要用于检测与测试表面平行或略微倾斜的缺陷（如钢板）； 比普通探头更适合检测近表面缺陷。 浸入式探头 主要用于工件和探头不直接接触的情况。 适用于检测表面粗糙的工件，以及需要自动检测以提高扫描速度和缩短检测时间的工件。 可变角度探头 可调节反射角度，以满足不同要求。 ...
... SEDI-ATI 公司掌握了将光纤集成到金属针头中的特殊技术。光纤针适用于诊断、牙科和皮肤科。 光纤 我们的光纤通过了美国药典 (USP) VI 级认证，具有无毒性和生物相容性。标准产品使用的纤维芯直径从 200 微米到 600 微米不等。 远端 纤维末端插入皮下注射针头，针头可以是平的，也可以根据应用打磨成特定角度。也可选择金字塔形末端。针头经过特殊处理，能像注射针一样穿透组织。 连接器 探针配有 SEDI-ATI 生产的专有 OneShot SMA 或 PowerShot SMA 连接器。这些连接器专为一次性探头设计，成本问题非常重要。装配技术可避免光纤本身受到任何应力。 制造 生物兼容材料。 在洁净的环境中包装、储存和使用。 生产车间通过 ...
... 对在世界任何地方获取丰富内容的需求正在推动信息的无线传输的增长。这增加了对无线系统中的射频功率器件和新技术的需求，如GaN和SiC。这反过来又要求在晶圆级对这些新技术进行表征，这大大减少了开发新模型所需的时间。这些模型被用于新的器件设计，然后进一步在无线传输系统（基站、卫星等）中实施，以满足对内容渴望的消费者的需求。 为了在晶圆水平上对射频功率器件进行高度精确的表征，基于成熟的|Z|探针技术的|Z|探针®功率可在高频率（高达40 GHz）下处理高功率。|Z| Probe Power具有出色的接触重复性和极低的接触电阻，可在负载拉动测量设置中提供准确的结果，而这正是表征射频功率器件的典型方法。 由于在负载拉动和噪声参数测量中必须保持较低的插入损耗，以确保高反射系数 ...
... 广泛的标准选项 专为反射率测量而设 允许进行镜面和漫反射测量 允许对固体样品进行荧光测量 易于与标准SMA连接器连接 可选择透射光谱区域 反射探头用于从表面和粉末的荧光和反射测量中获得光谱信息。一束光从光源通过六根照明光纤送到样品上，荧光/反射由位于探针尖端中心的第七根光纤收集，通过SMA 905连接器耦合到光谱仪。 较低的测量信号需要较高芯径的光纤来增加照明和改善收集。Sarspec提供的反射探头在紫外-可见光和可见-近红外波长范围内均可使用，可与我们的标准和多角度探头支架结合使用。标准和多角度探针架都提供了我们创新的、坚固的、灵活的滑块系统，以实现快速和方便的样品交换。 ...
Sarspec, Lda