电子扫描显微镜 ZEISS EVO

实验室用于材料分析质量控制

在工业质量、失效分析或研究环境中，扫描电子显微镜 (SEM) 是金相学和失效分析应用的首选解决方案，因为它能够提供高分辨率成像和高空间分辨率元素化学。 EVO 专为常规检测和分析应用而设计，可通过专用、简化的图形用户界面由专家和非专家电子显微镜师操作。 它可提供高质量的数据，尤其是对于由于需要后续检测而无法涂覆导电层的非导电部件。 EVO 可以无缝集成到多模式工作流程中，这要归功于感兴趣区域的半自动迁移以及跨系统、实验室甚至位置的数据完整性解决方案等功能。 SmartPi 是一种符合标准的 ZEISS 自动化 SEM 粒子分析解决方案，允许根据元素成分进行粒子分类，作为工业清洁的交钥匙解决方案在 EVO 上实施。 EVO 具有多种腔体尺寸、真空系统、电子发射器类型和分析选项，可以与任何性价比要求紧密匹配。