DX-2012F是一款多维、高精度、全自动数字化磁场测量系统,适用于对任意形状物体和空间进行三维(AC和DC)磁场分布的测绘。系统可采集、可视化(1D/2D/3D)、记录并导出测量数据,用于分析和打印,支持可重复的自动测量序列,适合生产测试与科研应用。
应用与适用范围- 对自由空间、腔体及曲面上的三维磁场分布(AC/DC)进行表征。
- 适用于均匀场、多极环、N/S极分布、马达与执行器磁场、超导磁体、MRI边缘场等磁场特性测量。
- 广泛应用于工业研发、质量控制、航空航天、国防与科研机构。
主要特点- PC控制的自动扫描与数据采集,支持序列化测量流程、数据库日志(Microsoft Access)及图表生成,便于打印报告。
- 机械结构模块化:可配置的三维移动平台与旋转台,可按工件几何形状组合与定制;需要时可选配扩展至5轴。
- 高精度全数字化高斯计,配备微型霍尔探头,提供1D/2D/3D探头选项,实现精确局部磁场测量与成图。
- 软件控制的运动与测量流程,支持无人值守自动监测。
- 系统软件已注册,量仪通过国家计量机构检测,保证测量可溯源性。
系统配置(逻辑概述)- 数据采集部分:带控制软件的PC、高精度高斯计(1D或3D)及兼容探头。
- 位移/定位部分:多维电子位移单元、位移站控制器及由站控器根据PC指令驱动的电子控制位移模块。
高斯计型号 / 数字化选项- DX-360 — 量程:10 nT 至 30 T — 精度:±0.15% ±0.005(读数值)
- DX-210 — 量程:10 nT 至 30 T — 精度:±0.10% ±0.005(读数值)
- DX-180 — 量程:10 nT 至 30 T — 精度:±0.05% ±0.005(读数值)
- DX-160 — 量程:100 nT 至 3 T — 精度:±0.20% ±0.005(读数值)
典型成像 / 测量能力- 可由测得数据生成1D/2D/3D图形;结果保存入数据库,便于复查、比对与制成可打印报告。
技术规格- 典型扫描空间(标准):200 mm × 200 mm × 200 mm(X、Y、Z)。可按需定制。
- 平移分辨率(机械):0.00039 mm;位置精度:0.01 mm;重复定位精度 < 0.005 mm。
- 旋转角分辨率:< 0.0002°;旋转定位精度:0.01°;重复定位精度 < 0.005°。
- 运动速度等级:可编程(2–64档速度等级)。
- 探头尺寸:微型霍尔探头 — 1D φ0.5 mm;2D φ1.2 mm;3D φ1.2 mm。
- CNC多轴平台行程(可选):X: 50 mm–4000 mm(分辨率 0.00039 mm);Y: 50 mm–2000 mm(分辨率 0.00039 mm);Z: 50 mm–2000 mm(分辨率 0.00039 mm)。
- 回转台:T和θz轴360°全行程,角分辨率 0.0002°。
- 数据库格式:Microsoft Access;输出:数据日志与可打印图表。