EDXRF光谱仪 Genius IF

用于冶金产业经济型台式

带二级目标的台式EDXRF光谱仪 Xenemetrix的Genius IF（二级目标）EDXRF光谱仪为当今的元素分析市场提供了一个高性价比的解决方案。 该分析仪提供从碳(6)到镄(100)的非破坏性定性和定量测定，提供从亚ppm到高重量百分比浓度的检测限。 Genius IF拥有强大的组件，包括 一个完全集成的计算机系统 高分辨率的Slicon漂移探测器 功能强大的X射线管，具有不同的光斑尺寸，可适应各种尺寸的样品。 八个二级目标和八个可定制的管式过滤器，可快速准确地测定微量元素和次要元素。 Genius IF也可以在经典的直接激励模式下工作。 硅漂移检测器(SDD)。 硅漂移检测器可实现高计数率、提高分辨率（低至125eV）和快速响应时间，以最大限度地减少操作停机时间。 SDD LE- Ultra - 超薄检测窗为低Z元素分析提供了卓越的性能。 二次目标。 Genius IF具有独特的专利几何形状，结合了8个二级目标，以及在直接激发模式下使用的8个可定制的管式滤光片，可对EDXRF中可检测到的所有元素进行最佳激发。 WAG(Wide Angle Geometry)专利二级靶技术为主要、次要和微量元素分析提供了最佳结果。