RS-232信号源测量单元 S series

LANGPIB

S系列高精度数字源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化源表，集电压、电流的输入输出及测量等多种功能。 最大输出电压300V，最小电流分辨率10pA，支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材料与纳米材料等特性测试和分析。 • 5寸触摸显示屏，全图形化操作 • 高至300V低至10pA，最大测试功率30w • 支持前后面板、2/4线以及GUARD保护 • 多种通讯方式:RS-232、GPIB、以太网 • 全量程输出及测量精度可达0.1% • 标准的SCPI指令集，便于客户二次开发 • 易搭建半导体电性能测试方案 • 可用于测试半导体的电性能指标：I、V、R 为什么选择S系列数字源表? 性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。 灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI) ,提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。 多合一高精密SMU，极致简化测量 传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。 S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间，同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”，降低购买测试系统的整体成本。