恒温试验箱
温度老化低温

恒温试验箱
恒温试验箱
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

类型
恒温
受控参数
温度
测试类型
老化
其他特性
低温, 高温

产品介绍

半导体存储器高、低温高 自主研发设计内存封装测试硬件平台和软件系统,全面支持NOR Flash、NAND Flash、eMMC、UFS全速老化测试

---

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。