X射线检查机 Phoenix Microme|x Neo

计算机断层成像3D用于半导体

适用于电子产品的高性能优质纳米焦点和微焦点检测 Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo 在同一个系统中提供了高分辨率的 2D X 射线技术、PlanarCT 和 3D 计算机断层(CT) 扫描技术，可以在工业、汽车、航空航天和消费类电子行业中对电子元器件（如半导体、PCB、锂电池等）进行无损检测 (NDT)。 Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo 凭借创新的工程设计与超高的定位精度，非常适用于电子行业生产过程检测，如产量提升需求下的质量控制、更高产品安全性和质量需求下的故障分析以及产品创新研发。 了解最全 Phoenix Nanome|x 和 Microme|x Neo 产品新功能。 Waygate Technologies（前身为 GE Inspection Technologies）是无损检测解决方案的全球领导者，在保障质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。