X射线平板探测器 dynamic 41|100

用于 CND

在更短的时间内获得优质的 CT 结果 •Dynamic 41|100 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台的首款产品。 其检测面积约为 410×410mm²（16"×16"），像素大小为 100μm，在实现卓越图像质量的同时提供更快的检测速度。 •Waygate Technologies 基于专有的 X 射线平板探测器技术，独家向其射线照相和 CT 客户提供其首个专门为粗加工和高能量消耗工业 X 射线应用而设计和优化的 100 μm、16M 像素的平板探测器。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比，Waygate 专有的EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。 产品特点 •具有超大 16 英寸检测面积、100 µm 的像素（1600 万像素）的 X 射线平板探测器，可实现卓越的图像和结果质量，能够根据工业高能量消耗的长期可靠性进行设计和优化。 •高分辨率图像，便于检测细微的迹象（使用微聚焦 X 射线管可检测 50 µm 的特征）。 •新一代光电二极管设计，与最先进的 200 µm 像素检测仪相比，效率和灵敏度提高了 10 倍，可在不影响周期时间的情况下将分辨率提高 2 倍。