热成像成像仪 ThermalVewX MCR series
半导体工业测量红外

热成像成像仪 - ThermalVewX MCR series - ViewOhre Imaging Co., Ltd. - 半导体工业 / 测量 / 红外
热成像成像仪 - ThermalVewX MCR series - ViewOhre Imaging Co., Ltd. - 半导体工业 / 测量 / 红外
热成像成像仪 - ThermalVewX MCR series - ViewOhre Imaging Co., Ltd. - 半导体工业 / 测量 / 红外 - 图像 - 2
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产品规格型号

应用
半导体工业
功能
热成像, 测量
光谱特性
红外
传感器
FPA
选项和配件
高敏型, 高速, 高性能, 高端, 冷却

产品介绍

"ThermalViewX MCR 系列 "是一种热成像技术,可以测量热电偶无法测量温度的微小区域。它可以测量高达 400 摄氏度的温度,还可以选择测量微米级的温度。它已被许多国家和公共研究机构、大学和工业公司采用。它被用于半导体相关领域、碳中和领域以及绿色能源相关领域。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。