干涉测量传感器 NS-1

这是一种全新的光学干涉测量系统，它不受光学元件或被测物体精度的限制，其基础是当粗糙表面物体被激光照射时产生的散射场（激光斑点）在统计意义上是完全随机的。 预期应用 - 微型机械部件（如微机电系统）的运行分析 - 应变计不适用的应用（测量聚合物材料和微连接部件的变形和热应变特性） - 生物样本（测量植物生长的超短时间行为、植物工厂作物的高精度生长监测、设定最佳栽培条件） - 环境测量（利用生物进行环境评估） 特点 - 高精度测量--可进行亚纳米级测量（测量系统仅由所使用的数据点数量决定）。 - 非接触、非侵入式测量 - 光学系统简单 - 测量时无需绝对参考点（可使用任意两个点） 激光 - 波长：660 纳米 最大输出功率90mW 相当于 3B 级 激光束直径 - 约 1.0 毫米 激光束间隔 - 约 3.0 毫米 测量精度 - ±1.0nm 电脑和软件 - 作为标准配件提供 帧频 - 2fps 电源 - 单相，AC100V，50/60Hz，5A 尺寸 - - 宽 240 × 深 200 × 高 280 毫米（主机） - W390 × D320 × H200 毫米（控制装置） 重量（约） - - 5 千克（主机） - 6 千克（控制装置）